300GHz~1μHz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/UHF/VHF/超低周波)のキーコム:
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。お気軽にお問合せ下さい。

伝搬遅延方式  Cut Backタイプ
フリースペース法
比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)測定装置・システム

Model No. DPS06

周波数が500MHzから40GHzにおいて、εrが概ね1.05から500の材料のεrおよびtanδを計測する測定装置・システムです。特に損失の大きい試料の計測に威力を発揮します。

伝送路を用いたCut Back法からなり、以下に示す特長があります。
特性インピーダンスの均一性向上
精度の向上
測定の単純化

なお、試料が充填された状態での特性インピーダンスが50Ωに近くなるよう回路設計します。

仕様

測定周波数 500MHz~40GHz
試料の特性 εr : 1.05~500 精度±5%
tanδ: 0.001~5

オーダー情報 - Model No. および 部品番号(もしくはご要望) をお知らせください

Cut Back用計測キット(1セット) CBC-04
APC2.9(m)コネクタ付 40GHz用同軸ケーブル
 3m (2本)
CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-3000
Cut Back用プログラム(1セット) DMP-14
ベクトルネットワークアナライザ お持ちでない場合には手配いたします。ご希望の機種等ございましたら、お知らせください。
Windows PC プリンタ付 お持ちでない場合には手配いたします。
GPIBケーブル GP-01

 

構成