1~50MHz帯低損失材料用複素誘電率測定システム

低周波帯では一般的に誘電率測定に静電容量法が使用されていますが、低損失材料の測定が出来ないために、
開発いたしました。
低周波帯で低損失材料を測定したい場合には、非常に有用なシステムです。

10MHz帯でtan δが 2 x 10^-4 まで測定できます。
LC共振をさせて測定しますが、 次に示す工夫を行って低損失材料の測定を可能にしています。
1.　コイルの線材をリッシ構成にし、高周波抵抗を低くする。
2.　コイルを液体窒素冷却にし、共振のQを高める。
3.　信号の入、出力を粗結合で行い、共振のQを高める。