300GHz~1μHz（超高频/毫米波/微波/UHF/VHF/超低频）的凯科梦
可根据要求进行少量的设计・生产・测试。敬请垂询。

电波吸收率(远场・近场)测量系统

Model No. eas
特性

KEYCOM基于电波吸收理论，电子材料的特性和程序技术的丰富的经验，开发电波吸収材料的实用技术

软件

单层/多层型 针对电波吸收体和反射衰减的仿真软件
eas01002010910-07
您可针对复介电常数（εγ的实部和虚部），复磁导率（μγ的实部和虚部），样件厚度和频率中需要优化的两个变量进行旋转，并让系统执行计算。反射衰减分布会随之显示在如下图表所示的轮廓线图中。您可通过重复多种组合获得最优化的相对介电常数、相对磁导率或样件厚度。

远场　电波吸收体・反射衰减测量系统

KEYCOM作为IEC和JIS委员会会员提案，建立的以下标准
JIS　R1679 : 2007
IEC　62431 : 2008

倾斜入射型

电波吸收体（针对2.6至26.5 GHz/26.5至110 GHz）远场透镜天线型反射衰减测量系统
eas03002010704-01
此型号适用于无线电波吸收体和屏蔽材料的评估。与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此您可以使用很小的样件。（当使用矢量网络分析仪时）此型号同样可以测量垂直入射。我方也可针对重型不可移动的无线电波吸收体，例如混凝土墙和沥青路，提供可移动型测量系统。。
【高精度的原因】
・平面波与样件表面相位同步。
・平行波束没有不必要的的无线电波入射至透镜。
・暗室并不是必要的。
　　　
 
透镜聚焦型反射衰减测量系统(26.5-110GHz対応)
eas05002031117-09
毫米波通过透镜聚焦和辐射在样件上，并高精度测量反射。客户可选择S11型号用于测量返回至发射器的反射波，或者选择S21型号测量带辐射角并从另一端射出的反射波。此处，毫米波所聚焦的最小直径（光点直径）将近是波长的两倍。

用途:ITS、60GHz无线LAN、汽车防撞系统等

垂直射入

透镜天线垂直射入型 电波吸收体・反射衰减测量设备
eas07002981027-10
与同轴管类和波导管类不同，该夹具中因无需放置样品，因此不会出现由气隙引起的误差。另外，由于镜头是安装在天线上且较小型，所以样品可以在平面波的情况下进行测试。试样被设置在天线近侧，因而试样可更小。
 
便携型透镜天线垂直射入式 电波吸收体/反射衰减测量设备
eas12002041115-12

透镜天线垂直射入式 电波吸收体・反射衰减测量设备的手提型。安装电波吸收体后可测试反射量。
由于可以轻松移动天线，还可以很好了解接缝等的影响。 与同轴管类型和波导类型不同，该结构中无需放置样品，因此不会出现由气隙引起的误差。
此外、由于天线安装了透镜且非常小型化，因而能用平面波来测试试样。又因为能在天线近旁设置试样，因此试样可以更小。

低频用

低频微带线型电波吸收体·反射衰减测量系统
eas08002020721-05
能够小型试样来测量MHz带宽的反射衰减。

近场噪声抑制片评估系统

内去耦比/相互去耦比（Rda/Rde）测量系统

内去耦比/相互去耦比（Rda/Rde）测量系统　IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2

nss02

在2003年，日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法，并且此方法在2006年5月正式成为标准（KEYCOM以该委员会的委 员参加）。JIS标准化也在2006年6月开始（KEYCOM以该委员会的委员参加）。KEYCOM在市场上快速推出了符合此评估方法的 测量套件。此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的无线电波吸收体。在小箱子中，电磁波可能被干扰，并且电 场和磁场可能会独立存在。无线电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的无线电波吸收率，从而不会干扰电路的阻抗。。

传输衰减功率比（Rtp）测量系统

近场噪音抑制片评估系统
传输衰减功率比（Rtp）测量系统 IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2
nss03

在2003年，日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法，并且此方法在2006年5月正式成为标准（KEYCOM以该委员会的委员参加）。JIS标准化也在2006年6月开始（KEYCOM以该委员会的委员参加）。KEYCOM在市场上快速推出了符合此评估方法的测量套件。此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的无线电波吸收体。在小箱子中，电磁波可能被干扰，并且电场和磁场可能会独立存在。无线电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的无线电波吸收率，从而不会干扰电路的阻抗。

辐射抑制率（Rsr）测量系统

噪声抑制片特性评估系统
无需暗箱的辐射抑制率（Rrs）测量系统
IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2
☆ 此测量方法在以下的论文中有详细的说明。
・ Hirosuke Suzuki, Tomio Hotchi, Masato Inoue, Shigeru Takeda
" Radiation Suppression Ratio Measurment of Noise Suppression sheet by Compact 3m Method " paper#137 EMC Zurich 2007 24-28 Sept.2007
・ Hirosuke Suzuki, Tomio Hotchi, Masato Inoue, Shigeru Takeda
" EMI Evaluation of a Cell phone without an Anechoic Chamber "
MO-IF-3-3 EMC-in-Singapore 2008, 19-22 May 2008

nss05

此型号在测量中无需暗箱。此系统非常紧凑，1.2高，60 cm宽。
【特点】
・无需暗箱即可实现等同于3-m法和10-m法的测量（0.5至26.5 (GHz)）。
・系统立式形状方便安放样件。
・由于衰减很小，您只需要网络分析仪用于测量。
・使用介质透镜将从被测样件发射的无线电波转换成平面波。由于测量是在近场进行的，因此衰减很小，这样您便无需使用诸如放大器等的额外仪器。所以，从外部过来的电波影响非常小，从而您无需使用暗箱。
 
带暗箱的近场噪声抑制片评估系统
辐射抑制率（Rsr）测量系统 IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
nss04

在2003年，日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法，并且此方法在2006年5月正式成为标准（KEYCOM以该委员会的委员参加）。JIS标准化也在2006年6月开始（KEYCOM以该委员会的委员参加）。KEYCOM在市场上快速推出了符合此评估方法的测量套件。此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的无线电波吸收体。在小箱子中，电磁波可能被干扰，并且电场和磁场可能会独立存在。无线电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的无线电波吸收率，从而不会干扰电路的阻抗。