基于每年测量超过1000个样件的电波吸收率（电波吸收材料，噪声抑制片，噪声抑制片/近场/远场）的经验，可以提出精确的测量方法和设备的建议 ，快速测量出准确的数据。测量范围
在此只列出基本的事宜。请联系有关您所需测量的样件。
| 近/远 | 方式 | 频带 | 样件尺寸 |
|---|---|---|---|
| 远场 | 自由空间反射法 ・垂直入射 ・斜入射 |
(1GHz)2.6GHz-26.5GHz |
450mm×450mm左右 (最小300mm×300mm) |
| 26.5-110GHz |
250mm×250mm左右 | ||
| 近场 | 近场用 | 0.1GHz-3GHz | 100mm×50mm以上 |
| 3GHz-18GHz | |||
| 18GHz-40GHz |
电波吸收材料・噪声抑制片/近场・远场)测量服务的交付时间
一般的交付时间
- 正常交货时间：1周（如果您急忙，请咨询）
- 诸如学期末之类的拥挤期：大约2周（如果您急忙，请咨询）
- 测量所需时间：2-3周（如果您急忙，请咨询）
利用丰富的测量服务经验，我方可以提出准确的测量方法和设备，并快速测量出准确的数据。
测量难度高的材料
对于技术上困难的要求和测量，如果理论上可能的话，根据各种测量设备开发经验，目前尚无法解决，我们努力使测量成为可能。请咨询我们。 （需要比平时更多的时间。3周〜）
示例）2005年11月开发的测量方法→低频下超薄薄膜（0.01μm）的介电常数和介电损耗正切测量
KEYCOM被选为IEC，JIS的委员
- 毫米波段精细陶瓷介电特性的测量方法 第2部:开放式谐振器方法―JIS R 1660-2:2004―
- Noise Suppression Sheet for digital devices and equipment Part2:Definitions and general Properties―IEC62333-1:2006-05―
- 毫米波段的电波吸收特性的测量方法―JIS R 1679:2007―
- Measurement Methods for Reflectivity of Electromagnetic Wave Absorbers in Millimeter Wave Frequency ―IEC62431/Ed(2008年制定予定)
- 此外，KEYCOM在2006年Europian Microwave Conference上提出了使用微带线的模拟方式测量介电常数和tanδ的方法。EuMc21-4, 2006, Manchester, UK
Part2:Measuring method―IEC62333-2:2006-05―
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E-mail:info@keycom.co.jp FAX: 03-5950-3380（如果您急忙拨打TEL 03-5950-3101）
请填写以下信息（只有您能理解），并随时与我们联系。
如有必要，请使用以下“报价单”。销售代表或技术代表将与您联系。
*联系信息
*测量所需频率
*有关样品物质的信息
*处理样品时的注意事项（电导率，挥发性等）
*测得的所需温度（常温，其他）
*如果您希望我们提供样品，请提供详细信息。 示例）酒精度为48度的酒精溶液
*是否要退还样品
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