KEYCOM拥有各种各样的测试仪器。KEYCOM不仅拥有10μHz~300GHz(VHF/UHF/微波/毫米波)领域的高端技术产品，测试方面也拥有及其先进的技术。测试服务一览表
| A. 电气材料特性/电磁波特性/电气特性 评估・测试 | B. 天线和雷达 | C.电路评估、线路板解析、产品/不良/故障分析 |
|---|---|---|
| 1. 介电常数（相对介电常数·复介电常数）·介电损耗正切 | 1. 天线发射特性（模式轮廓），增益，轴比测试 | 1. 线路板解析 |
| 2. 电波控制材料（电波吸收体，非反射材料，隐形涂料）的反射/吸收特性/电波吸收率（远场/近场/噪声抑制膜） | 2. 毫米波的评估测试 | 2. 包括含有波导，同轴，探针接触管等具混合终端条件的电路评估 |
| 3. 磁性材料的测试服务（透磁率等） | 3. 车标、保险杠等的传输衰减和光束偏移测量 | 3. 低频（直流）到中高速电子线路的一般探针评估，故障分析 |
| 4. 传输衰减测量服务 | 4. RCS的模拟 | |
| 5. 屏蔽效应测量服务 | 5. 获取对象的RCS和图像数据（可前来拿取） | |
| 6. ESR测量 | 其他 | |
| 7. 传输特性测试 | ||
| 8. 变换移植 | 8. 变换移植 | |
| 9. 电导率/体积电阻率/绝缘厚度的测量 | ||
| 10. 输送/反射特性测试（阻抗评估、Ｑ值评估） | ||
| 11. 负载（QL）测量时的Q值，材料Q值（Q0）推算 | ||
| 12. 采用四探针法测量电导率，表面电阻，电阻率等 | ||
| 13. 集中参数推算（L/C/R测量），配件 | ||
| 14. 用毫米波段接触探测 | ||
| 其他 |
| D. 模拟 | F. 咨询等 | |
|---|---|---|
| 1. 分子轨道计算 | 1. 代为申办无线电台许可（开放/变更·重获许可）等 | |
| 其他 | ||
KEYCOM的测试服务
| # | 基于多年在测量服务领域的经验，KEYCOM可即时提供测量方法和设备，并精确测量相关数值。 →通常交付时间: 1周 (针对紧急交付需求仍可协商) →高峰时段例如期末的交付时间: 约2周 (针对紧急交付需求仍可协商) →针对需要长时间的测量: 2至3周 (针对紧急交付需求仍可协商) |
| # | 甚至对于有技术挑战性或目前无法提供的测量，只要理论上可能，KEYCOM仍然会基于其在开发不同测量仪器的扩展经验承接此类测量项目。因此，请随时联系我方。(由于项目的复杂性，可能需要更长的交付时间：3周或以上) *示例：在2012年6月开发的一种测量方法: 在垂直电场中测量薄片的介电常数和介质损耗因数。 |
| # | KEYCOM 已经被选举成为了IEC (国际电工委员会)和JIS标准委员会的成员。 |
| # | KEYCOM所开发的介电常数和磁导率测量仪器以及无线电波吸收率测量仪器已经被IEC和JIS作为标准。 ＊当选为JIS标准化委员。 ・介电常数测量 ・电波吸收率测量 |
| # | KEYCOM所开发的介电常数和磁导率测量仪器以及电波吸收率测量仪器已经被IEC和JIS作为标准。 ・精细陶瓷在毫米波频率范围的介电特性测量方法 第2部:开放型谐振器法―JIS R 1660-2:2004― ・Noise Suppression Sheet for digital devices and equipment Part2:Definitions and general Properties―IEC62333-1:2006-05― Part3:Measuring method―IEC62333-2:2006-05― ・电磁波吸收体在毫米波频段的反射率测量方法―JIS R 1679:2007― ・Measurement Methods for Reflectivity of Electromagnetic Wave Absorbers in Millimeter Wave Frequency ―IEC62431 |
委托测试的方法
请参考：试验委托的方法