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# | 对于技术上困难的要求和测量,如果理论上可能的话,根据各种测量设备开发经验,目前尚无法解决, 我们努力使测量成为可能。请咨询我们。 (我需要比平时更多的时间。3周〜) 示例)2005年11月开发的测量方法→低频下超薄薄膜(0.01μm)的介电常数和介电损耗正切测量 |
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