300GHz~1μHz(超高频/毫米波/微波/UHF/VHF/超低频)的KEYCOM
可根据要求进行少量的设计・生产・测试。敬请垂询。

相对介电常数·介电损耗正切·相对磁导率测量系统

Model No. DPS
KEYCOM的介电常数/磁导率测试装置的优点
优点之一:在介电常数/磁导率测试方面,拥有丰富的测试经验和专业知识

拥有25年以上的测试服务的经验,还参与了IEC(国际电工委员会)和JIS(日本工业标准)的制定,对测量方法提出了先进的建议与意见,可以准确地指定最合适的测试方案并提供相应的测试设备。
可满足固体,薄膜,粉末,液体,多层结构等大部分材料的测试需求。

优点之二:高精度,实用的测量装置
拥有丰富的经验和知识,KEYCOM可以提供满足您需求的高性能测试装置。
规格示例(详细请您咨询)。

・高精度--±1% 
・非破壊 
・不破坏
・支持0.1μm超薄膜
・可对固体,薄板,薄膜,粉末,液体(含油等),多层结构等进行测试 ・测试范围10μHz-140GHz(使用多个设备)
优点之三:灵活迅速的定制测试方案
KEYCOM的测试装置是在日本国内制造的。因此,对于需求的定制和技术性的咨询等,可以灵活且迅速地回答。
此外,还可以有目的地开发用于软性电路版、半导体、薄膜、微波・毫米波电路版、微波・毫米波谐振器以及液体等的测试装置。
优点之四:高质量的支助服务

如果您购买后有任何问题,请随时联系我们。
我们将根据28年的业务知识尽可能为您回答问题,或提供合适的建议。

KEYCOM拥有的工程师不仅是电气工程师,也是化学工程师,可以满足化工和电力部门的客户需求,包括测量,分析。

此外,基于雄厚的经济基础如下,我们已经建立了一个可以长期支持你的体系。
若您对我们的产品感兴趣,请您通过E-mail(info@keycom.co.jp)或电话随时联系,我们的销售人员(中国人)将尽快给您回复。

《公司概要》

1.介电常数测量方法概述

1-1. 根据测试材料进行选择

只列出代表性案例。表格内不存在的话敬请垂询。
Ο : 最佳
∆ : 可测试
    多层结构体 印刷线路板 胶片(超薄膜) 粉状物 板材 木偶 电波吸收材料 噪音抑制板材 泥土 水泥
沥青
蔬菜瓜果
野菜
液体 天线罩 陶瓷 介质谐振器 半导体 强电介质  
1 .开放型谐振器法 20GHz~110GHz Ο Ο Ο Ο Ο   谐振法系列
适用低损耗材料
高精度
点频率
无需相位测量
2. TM模 空腔谐振器法 200MHz~10GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο Ο Ο   Ο
3. TE模 空腔谐振器法 800MHz~14GHz Ο Ο Ο Ο
4. 带状线谐振器法 800MHz~14GHz Ο Ο Ο Ο
5. 微带线谐振器法 800MHz~14GHz Ο Ο Ο Ο
6. 盘式谐振器法 3GHz~70GHz Ο Ο Ο Ο
7. LC谐振器法 10MHz, 50MHz, 100MHz Ο Ο Ο      
8. 平行导体板型介电谐振器法 3GHz~26.5GHz Ο Ο  
9. 自由空间频率变化法
2.6GHz~110GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο           频率变化法系列
适用低损耗材料
适合有厚度材料
10. 封闭系统频率变化法(同轴波导,波导) 10MHz~60GHz Ο Ο   Ο Ο Ο           Ο
11. 探测方式(开放)S参数法 30MHz~90GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο S参数法系列
适用于高损耗材料
精度低,但可以测量宽频
12.13.14可同时测量透磁率
12. 探测方式(短路)S参数法 100kHz~10GHz Ο Ο
13. 封闭系统S参数方法(同轴波导,波导)也可同时测量μr 12MHz~40GHz Ο Ο Ο Ο
14. 可用空间S参数法
也可同时测量μr
2.6GHz~110GHz   Ο               Ο
15. 自由空间入射角变化法S参数法
也可同时测量μr
2.6GHz~110GHz Ο Ο Ο Ο Ο
16. 传播延时同轴管方式S参数法
45MHz~40GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο Ο
17. 低频用开放同轴反射法 1MHz-1GHz Ο Ο        
18. 静电容量法 1Hz~1GHz Ο Ο Ο Ο 静电容量法系列
可测低频带
高精度
可测宽频
19. MOSFET结构半导体耗尽层 栅电极正下方有一层介电膜
20Hz~2MHz               Ο
20. 椭圆测量法
也可同时测量μr
26.5~110GHz Ο Ο Ο 椭圆偏光法法系列

1-2. 根据频带,相对介电常数,介电损耗正切(εr', tanδ)进行选择

根据频带、相对介电常数、介电损耗正切(εr'/tanδ)进行选择

1-3. 根据其他要求选择

只列出代表性案例。表格内不存在的话请咨询。

测量需求
测量方法
希望高精度测量超薄印刷电路板等薄膜
(胶片测量・多层结构物测量)
摄动法
希望测量无法单独存在的高精度薄膜等
(胶片测量・多层结构物测量)
摄动法
希望高精度(εr ±1% tanδ±3%)测试 摄动法
只有1mm大小的试样 探测法
希望超高频(20GHz-110GHz)且高精度测试 开放型谐振器法
希望超低频(10μHz-10Hz)测试 静电容量法
希望测试液体 探测法
希望测试粉状物 探测法
希望测试汽油等挥发性物质 探测法
希望变换温度进行测试 静电容量法
对精度无较高要求(εr ±7% tanδ±10%)、
只要知道大致数值
S参数法
试样较大、但不想切割或无法切割
(非破坏)
微带线法
(谐振法)
只要简单测量 探测法
希望一起测试介电常数、介电损耗角正切以及透磁率 S参数法

2.介绍KEYCOM测试设备主要功能和其特点


谐振法 (JI规格化・开放式谐振法 JIS R 1660-2)

KEYCOM的铃木洋介作为JIS规格方案起草委员参与制定,而在2004年完成规格化。

谐振法 开放型谐振器 板材及超薄膜用 毫米波 相对介电常数、介电损耗角正切(εr'/tanδ) 测试设备・系统[DPS03]

由于是采用开放型的法布里 - 珀罗(Fabry-Perot)谐振器,因此它是一种兼容薄膜的测量设备、具有毫米波范围内的高测量精度以及简单的样品加载和卸载功能。即使tanδ很小、也可以测量。
使用Windows电脑可自动进行测量。
此测量方法发表于2005 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference OTTAWA,ONTARIO,CANADA,然后在2004年被制定为JIS规格。 *JIS R 1660-2
・ εr ±3% tanδ ±7% 的高精度测试
・ 能对10μm~0.1mm的極薄膜进行测试
・ 操作简单
・ 测试范围 18GHz-110GHz
 

谐振式 带状线式 板材用 相对介电常数,介电损耗角正切 (εr'/tanδ) 测量设备/系统[DPS50]

在800MHz至14GHz的频率范围内、εr约为1至40,能测试介电损耗相对较小片材的εr和tanδ的系统。

可测量绝缘片εr、tanδ的测量套件,依据ASTMD3380 Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates 及IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates, Clad or Unclad, for High Speed/High Frequency Interconnections。
 

盘式谐振器型介电常数测量系统[DPS51]

用于测量在3 GHz至70 GHz频率之间,介电损耗εr'约为1.05至10时,尺寸相对较小的薄片材料的εr'及tanδ的测试仪器・系统。
此测试方法在IEEE-IMS发表(2012年)。

《参考论文》
Hirosuke Suzuki, Masato Inoue "Complex Permittivity Multi-Frequency Measurements for Dielectric Sheets Using a Circular Disk Resonator"
2012 IMS2012 THPB-1
 

谐振法 微波带状线 板材用 相对介电常数、介电损耗角正切(εr'/tanδ) 测试设备·系统[DPS01]

用于测量频率为800 MHz至14 GHz时介电损耗相对较小且εr约为1至40的材料的εr和tanδ的测试仪器・系统。
可测量超薄电介电片材的εr,tanδ的测量套件、依据ASTMD3380 Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates 及 IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates,Clad or unclad,for High Speed/High Frequency Interconnections。
 

摄动法

摄动法 样件孔穴封闭型 空洞谐振器法 超薄板材用 相对介电常数,介电损耗正切(εr'/tanδ) 测试设备・系统[DPS18]

依据ASTM D 2520标准,用微波,测量样品的εr和tanδ的摄动法高精度测试设备。
这是在1992年JISC 2565的JIS标准中规定之方法的基础上,通过封闭插入金属的孔穴来提高测试精度的。

・±1% tanδ ±3% 的高精度测试
・能测试0.1μm的超级薄膜
・多层构造物(蒸镀膜等)也能测试
・固体・板材・胶片・粉状物・液体(包括油等)・多层构造物等均能测试
・操作简便
・测试范围 200MHz-20GHz

传播延迟法

此测试法的论文于2002年12月在电子信息和通信协会杂志J85-C第12号PP.1149-1158上刊登。

传播延迟法 截断法 同轴管法 相对介电常数·介电损耗正切 (εr'/tanδ)测量设备·系统[DPS05]

是频率为45MHz至40GHz之间、εr约为1.05至500的液体εr及tanδ的测试设备·系统。此外,通过施加偏压,也能评价液晶等的εr和tanδ与电压的关系。
 

传播延迟法 截断法 自由空间法 相对介电常数·耗散系数(εr', tanδ) 测试设备·系统[DPS06]

此测试设置用于频率在500MHz至40GHz,εr约为1.05至500的材料的εr和tanδ的测量。对于测量大损耗的样品特别有效。
 

传播延迟法 截断法 共面线法 相对介电常数,介电损耗正切(εr'/tanδ)测试设备・系统[DPS07]

可测量500 MHz至65 GHz频率间液体εr和tanδ的测试设备・系统。 在共面线上用抹约0.2mm厚度的液体进行测量。此系统内藏共面线电磁场模拟软件,来诱导液体与共面线形成的电介质和有效相对介电常数以及有效tanδ液体的εr和tanδ。
通过施加偏压方式测试εr和tanδ与电压的关系。
 

传播延迟法 截断法 带状线法 相对介电常数·介电损耗正切(εr',tanδ)测试设备·系统[DPS15]

用于测量频率在500 MHz到40 GHz之间电介质片和粘土材质样件的εr和tanδ的测试设备。
在测试粉状物等时,能选购用于计算真实介电常数和真实比重的真实介电常数和tanδ的软件和温度测量设备以及温度相关性计算软件。通过施加方式来测试εr和tanδ与电压的关系。

 

探测法

探测法 开放式 相对介电常数·介电损耗正切(εr'/tanδ)测试装置·系统[DPS16]

・低频(30MHz)至高频(90GHz)范围内均可选择。
・固体、液体、粉状物均能测试。
・能运用纯水以外基准/标准样件(丙酮等)。
・操作简便。
KEYCOM探测法的特点
〇能够使用纯水以外的标准样件
作为校准用的标准样件,能使用纯水以外的丙酮。丙酮的介电常数等特性易于查询。另外,丙酮在空气中较难吸收水分、不易变质等介电常数特性均显示与纯水不同。
〇探测器种类繁多
有外径φ1.2mm、φ2.2mm、φ3.6mm以及φ6.6mm,对粉状物样件等的测试有效。颗粒较大时可用外径较大的探测器。
〇频率范围广
通常使用的探测器法的最大频率为50GHz ,KEYCOM的能达到90GHz。
 

探测法(短路) 相对介电常数・介电损耗正切 (εr'/tanδ) 测量装置・系统[DPS25]

・低频(100KHz)至高频(10GHz)均能测试。
・也能测试固体、液体的样件。
・垂直于样件表面的方向有一电场、其与微带线和带状线电场方向一致。
・通过分开使用2种不同的电极、测试较广频率范围。
 

S参数法

S参数法 反射法/透过法 同轴管 波导管类型、相对介电常数,介电损耗角正切,相对磁导率(εr'/tanδ/μr'/μr'')测试设备[DPS08]

本测试设备能用反射法和透过法的2种测试方法来测试、根据用于使用。
两种方法对复数εr和复数μr均能同时测试,各不同测试法请参考如下。
电波吸收材料的吸收率和反射率均能透过计算复数εr和复数μr得出结果。
 

S参数法 自由空间型 平板透过法 相对介电常数,相对磁导率(εr'/μr')测试设备[DPS24]

与同轴管类和波导管类不同,该夹具中因无需放置样件,因此不会出现由气隙引起的误差。 另外、根据样件的位置、特性差异、在凹凸不均的情况下能获得实用数据。
另外,由于透镜是安装在天线上,使得比较紧凑,所以样件可以用平面波进行测试。测试可通过连接矢量网络分析仪和电脑相连、透过S参数法S21以及S11来进行测量。

静電容量方式

静电容量法 平板,液体,胶状物,超薄膜,复合薄膜 相对介电常数・介电损耗正切 (εr'/tanδ) 测试设备・系统[DPS17]

能测试各种介质材料的静电容量,介电常数和介电损耗正切。
具有高精度分辨率和较宽距离测量范围。

入射角度变化法

入射角度变化法 相对介电常数,介电损耗正切,相对透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 测试设备・系统[DPS22]

利用TE和TM波来测试反射衰减量以及反射相位角的入射角度的关系。
通过这个测量值反向推算,可以获得复数相对介电常数和复数磁导率。 与同轴管类型和波导类型不同、该夹具中并不放样件,因此不会出现由空气间隙引起的误差。 另外,由于透镜安装在天线上,不但紧凑,而且样件可以用平面波测量,而且能得到较高的测试精度。另外、由于从天线发射的无线电波是平行波束,所以样件的尺寸可以做到更小。
另外、εr和μr针对各个频率都是可知的。

传输衰减量法

毫米波 相对介电常数/介电损耗正切 (εr'/tanδ) 以及传输衰减量测试系统[RTS02]

当毫米波穿透平板时,从频率和传输衰减量之间的关系来得出相对介电常数和tanδ。
*测量值是测量频带的平均值,不影响实际应用。
由于透镜安装在天线上,使得比较紧凑,用平面波能测试,还能获得较高的测试精度。
另外,由于可以在天线附近放样品,所以样品可以很小。
如果使用相应软件,还可以测量无线电波吸收材料等的反射衰减量。

 
测试频率范围 26.5~110GHz
样件尺寸 100mm × 100mm以上、300mm × 300mm以下
(注)即使是高频率、很少的样品也可以测量

通过使用标准矢量网络分析仪,在校准之后,将GATE应用于透镜之外,就能进行分辨率在透过衰减量0.1 dB和介电常数0.01的测试。另外、还可使用标量网络分析仪和合成扫地机。
 

微波 相对介电常数/介电损耗正切(εr'/tanδ)和传输衰减测量测试系统[RTS04]

根据微波透过 平板时的频率和透过衰减量的关系、能够计算出相对介电常数和tanδ
  *测试值是测量频段内的平均值,不影响实际应用。
由于透镜安装在天线上、使得外型变得紧凑、加上用平面波测量样件、从而能够得到很高的测量精度。
另外,因为天线附近能放置样本,能够使用很少的样件。
还有,如果使用选购的软件,也能测量稀薄材料等的反射衰减量。

测试频率范围 5.0~26.5GHz
样件尺寸 300mm × 300mm以上
(注)即使是高频率、很少的样品也可以测量

通过使用标准矢量网络分析仪、在校准之后、将GATE应用于透镜之外、就能进行分辨率在透过衰减量0.1 dB和介电常数0.01的测试。 另外、还可使用标量网络分析仪和合成扫地机。
 

垂直型毫米波相对介电常数/介电损耗角正切(εr'/tanδ)和传输衰减测量系统[RTS03]

频率范围在26.5GHz至110GHz的测量系统。
当毫米波穿过平板时、我们从频率和传输衰减量之间的关系能推算出相对介电常数和tanδ。

 *1.测试值是测量频段内的平均值,不影响实际应用。
 *2.该系统中无法计算电波吸收材料的反射衰减量。如果要测量反射衰减量的话,请参考相对介电常数/介质损耗角正切(εr'/tanδ)和传输衰减测量的系统[rts02]

和同轴管类型以及波导管类型不同、该夹具中不放样品、因此不会出现由空气间隙引起的误差。
另外,由于透镜安装在天线上、用平面波就能测量小型的样品。

其他测试方法

平行电容板,介质谐振器法 相对介电常数·介电损耗角正切(εr',tanδ)测试设备·系统[DPS14]

主要是高精度测量低损耗材料的微波频段的εr和tanδ的设备。

测量时样品为圆柱形。

 这是在JIS规格JIS R 1627中规定的测试方法。

 

椭圆偏光法 相对介电常数,相对磁导率(εr'/μr')测试设备·系统[DPS02]

由于它是标量测试,因此无需昂贵的矢量网络分析仪。通过测试TE波的振幅比和相位与反射系数的TM波之间的差值,可以得出复数相对介电常数和复数导磁率。
与同轴管类型和波导类型不同,该结构中没有放样品,因此也不会出现由空气间隙引起的误差。而且,由于透镜直接安装在天线上,使其外形比较紧凑,而且样品可以用平面波测试。另外,由于可以在天线附近放样品,所以样品可以更小。另外,可以知道各个频率的εr和μr。
 

毫米波 相对介电常数·介电损耗正切(εr',tanδ)测试用截止圆柱形波导[DPS20]

主要用于毫米波电路的低损耗介质电路版的截止圆柱形波导,介电常数·介电损耗正切(εr',tanδ)的测试。