Model No. DPS51
此型号测量仪器用于测量频率范围在3 GHz至70 GHz间、介质损耗相对小且相对介 电常数大约在1.05至10的薄片材料的相对介电系数和介质损耗因数。此测量方法于 2012年在IEEE IMS上发表。
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Hirosuke Suzuki, Masato Inoue "使用圆盘式谐振器进行介电片的复介电常数和多频率测 量" 2012 IMS2012 THPB- 1
特性
为了测量试样薄片,需将其放在印刷基板谐振器上,并将金属板以一定压强罩在上方,随后进行测量。 使用之前将已经准备好的两种不同类型的印刷基板谐振器重复以上步骤两次。此方法具备以下特性:
- 消除边缘效应
- 消除谐振器的导体损耗
- 消除样件谐振模式的必要性
- 与薄片垂直的电场
规格
频率 |
3GHz-70GHz |
相对介电常数 |
1.05-10 精度±5%
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介质损耗因数 |
0.001-0.05 精度±20% |
样件厚度 |
50μm-2mm |
配置
数据示例
订购信息(请告知我方型号、零件号以及其他需求)
零件号 |
产品名称 |
频率范围 |
样件尺寸 |
FS-03 |
压强型夹具(含一个压强量具用于施加固定负载) |
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RR3A |
谐振器(用于测量,校准和固定基座)
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3GHz - 10GHz |
70mm×70mm |
RR10A |
10GHz - 30GHz |
50mm×50mm |
RR30A |
30GHz - 70GHz |
40mm×40mm |
DMP-70A |
盘式谐振器法程序(基于Windows的复介电体转换软件) |
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EF085G-V(m)V(m)-300mm:2本 |
用于测量的同轴线缆 |
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GP-01 |
GPIB 连接线缆 |
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VNA |
网络分析仪(可一起订购) |
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PC |
Windows PC(含打印机) |
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