磁性材料特性（包含磁导率）测量系统

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特性

KEYCOM开发各种磁性材料测量系统，如ESR(电子自旋共振)，通过S参数法的透磁率测量等。

1. 磁性材料特性（包含磁导率）测量系统

	1.1. 磁性材料特性（包含磁导率）测量系统（可在100 KHz至30 GHz的宽范围测量）[PER01]
	此系统提供宽频带的磁铁复磁导率（μγ’-jμ’ ’γ），半宽度（ΔH），铁磁共振松弛系数（α, 100 MHz至10 GHz）和饱和磁化（4πMs）的测量。通过此系统，您可以在微带线上设置圆形和方片形样件后使用矢量网络分析仪进行便捷地频扫测试，从而达到非常高的测量精度。它可以用于100 KHz至30 GHz的测量。也可以为您提供磁性材料测量服务。
	【发表文章】 Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline "

2. S参数法

	2.1. S参数法，反射/发射模式，同轴和波导型：相对介电常数,介质损耗因数和相对磁导率测量系统 [DPS08]
	此测量仪器有两种测量模式：反射模式和发射模式，根据测量目的可以使用任一种方式。两种模式都能同时测试复数εγ和μγ，并且能够实现以下描述的应用。无线电波吸收体的反射衰减（无线电波吸收率）通过复数εγ和μγ进行计算。

	2.2. S参数法，自由空间型相对介电常数,介质损耗因数,相对磁导率,传输衰减,电波吸收率毫米波・微波测量系统(Dk, Df/ ε′r, tanδ/ μ′r, μ"r) [DPS24]
	此系统是S-参数法的自由空间型测量系统，能够同时测量介电常数、介质损耗正切和磁导率，也可以与TRL和LRL校准一起使用，适用于测量高损耗的材料。对于损耗较低的材料，我们推荐以下的测量系统

3. 射入角度变化方式

	3.1. 入射角变化模式：相对介电常数、介质损耗因数和相对磁导率测量系统 [DPS22]
	此型号测量与反射衰减相关的入射角以及TE波和TM波的反射相位角。它通过这些测量的逆估计计算复相对介电常数和复磁导率。与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。ま尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于从天线发射的无线电波是平行光束，因为样件可以非常小。由于从天线发射的无线电波是平行光束，因为样件可以非常小。可测得每段频率上的相对介电常数和相对磁导率。

4. 椭圆仪法

	4.1. 椭圆仪法：相对介电常数和相对磁导率测量系统 [DPS02]
	由于使用标量测量法，因此无需使用昂贵的矢量网络分析仪。通过测量TE波以及TM波反射系数在幅值比和相位的差别，此系统计算复介电常数和复磁导率。与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于样件安装在天线附近，因此您可以测量非常小的样件。可测得每段频率上的相对介电常数和相对磁导率。

5. 试样回转倾斜式静磁场大变量ESR测试系统

	5.1. 试样回转倾斜式静磁场大变量ESR测试系统 [ESR05]
	是自旋电子学研究的理想选择。・比标准型X波段ESR系统具有更高的测量灵敏度。・试样能高精度双轴回旋及细微倾斜。・静磁场可以从零磁场变为强磁场。