相对介电常数·介电损耗角正切·相对磁导率测量/分析系统

Model No. XDP

特性

⇒相对介电常数·介电损耗角正切·相对磁导率测量系统	dps
⇒磁性材料特性测量系统	per
⇒自旋子测量系统	spr
⇒左手性超材料测量系统	met
⇒无线电波吸收率测量(远场，近场，无线电波吸收体)	eas
⇒传输衰减量测量服务	rts
⇒屏蔽效应测量系统	sem
⇒ESR / EPR(电子自旋共振)　测量系统	esr
⇒实验夹具	mtf
⇒测量仪器自动化和程序分析・计算	sfw
⇒标准试验材料	sts

以下仅是产品名称的参考目录。如果您想查看详细信息，请点击上面的链接。

介电常数，介质损耗角正切 (εr'/tanδ) 测量设备/系统

谐振法　　(JIS化・开放式谐振法 JIS R 1660-2)
KEYCOM的铃木洋介作为规格草案起草委员参与制作，并于2004年春制作完成)

谐振法开放型谐振器板材及超薄膜用毫米波介电常数、耗散因素(εr'/tanδ) 测试设备・系统

dps03002990714-18

由于是采用开放型的法布里 - 珀罗(Fabry-Perot)谐振器，因此它是一种兼容薄膜的测量设备，具有毫米波范围内的高测量精度以及简单的样品加载和卸载功能。即使tanδ很小，也可以测量。
另外，Windows电脑可自动进行测量。
发表于2005 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference OTTAWA,ONTARIO,CANADA
2004年JIS规格制定。 JIS R 1660-2 JIS R 1660-2

・ εr ±3%　tanδ　±7%　的高精度测试
・ 10μm~0.1mm的超薄膜进行测试
・操作简单
・测试范围　18GHz-110GHz

谐振式带状线式板材用介电常数，介质损耗角正切 (εr'/tanδ) 测量设备/系统

dps50002070405-07

在800MHz至14GHz的频率范围内，εr约为1至40，能测试介电损耗相对较小片材的εr和tanδ的系统。
可测量绝缘片εr、tanδ的测量套件。依据 ASTMD3380　Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates 以及　IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates, Clad or Unclad, for High Speed/High Frequency Interconnections。

谐振法微波带状线板材相对介电常数、介质损耗角正切（εr'/tanδ）测试设备·系统

dps01002000313-08

用于测量频率为800 MHz至14 GHz时介电损耗相对较小且εr约为1至40的材料的εr和tanδ的测试仪器･系统。
可测量超薄电介质片材的εr，tanδ的套件。依据ASTMD3380　Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates 以及 IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates,Clad or unclad,for High Speed/High Frequency Interconnections。

摄动法

摄动法试样孔穴封闭型空洞谐振器法超薄板材用介电常数，介电损耗角正切（εr'/tanδ）测试设备·系统

dps18002031022-11

依据ASTM D 2520标准的用于测量样品微波中的εr和tanδ的摄动法高精度测试设备，另外，这是在1992年JISC 2565的JIS标准中规定之方法的基础上，通过封闭插入金属的孔穴来提高测试精度。

・±1%　tanδ　±3%　的高精度测试
・能测试0.1μ的超级薄膜
・多层构造物(蒸镀膜等)也能测试
・固体・板材・胶片・粉状物・液体(包括油等)・多层构造物等均能测试
・操作简单
・测试范围 200MHz-20GHz

传播延迟法

此测试法的论文于2002年12月在电子信息和通信协会杂志J85-C第12号PP.1149-1158登载。

传播延迟法缩减型同轴管法相对介电常数·介质损耗角正切（εr'/tanδ）测量设备·系统　

dps05002981027-10

是频率为45MHz至40GHz之间、εr约为1.05至500的液体εr及tanδ的测试设备·系统。此外，通过施加偏压，也能评价液晶等的εr和tanδ的电压依赖性。

传播延迟法缩减型自由空间法相对介电常数·耗散系数（εr'，tanδ）测试设备·系统

dps06002000831-05

是频率在500MHz至40GHz、εr约在1.05至500的材料εr及tanδ的测试设备・系统。特别对损耗较大的试样的测试具有较好的效果。

传播延迟法缩减型共面线法相对介电常数·介质损耗角正切（εr'，tanδ）测试设备·系统

dps07002010619-24

可测量500 MHz至65 GHz频率间液体εr和tanδ的测试设备・系统。在共面线上用液体覆盖约0.2mm厚度进行测量。此外、该系统内藏共面线电磁场模拟软件、来诱导液体与共面线形成的电介质和有效相对介电常数以及有效tanδ液体的εr和tanδ。通过施加偏压，可以评估液晶等的εr和tanδ电压依赖性。

传播延迟法减缩型带状线法相对介电常数·介质损耗角正切（εr'，tanδ）测试设备·系统

dps15

是一种用于测量频率在500 MHz到40 GHz之间电介质片材和粘土材质试样的εr和tanδ的测试设备。此外，在测试粉状物等时，能增加用于计算真实介电常数和真实比重的真实介质常数和tanδ的软件和温度测量设备以及温度相关性计算软件。εr和tanδ的电压依赖性也可以通过施加偏压方式来评估。

探头法

探头法开路式相对介电常数·耗散正切（εr'/tanδ）测试装置·系统

dps16002021001-11

・低频(30MHz)至高频(90GHz)范围内均可选择。
・固体、液体、粉状物均能测试。
・能运用纯水以外基准/标准试样(丙酮等)。
・操作简便。

KEYCOM探头法的特长
〇可对应纯水以外的标准试样
作为校正用的标准试样，能使用纯水以外的丙酮。丙酮的介电常数等特性均已调查明确。它在空气中较难吸收水分、不易变质等介电常数特性均显示与纯水不同。
〇有较多种探头器
有外径φ1.2mm、φ2.2mm、φ3.6mm以及φ6.6mm，对粉状物试样的测试有效。颗粒较大时可用外径较大的探头器。
〇频率范围较大
通常使用的探头器法的最大频率为50GHz 。但是KEYCOM能达到90GHz。

探头法短路式相对介电常数·耗散正切（εr'/tanδ）测试装置·系统

dps25002021001-11

・低频(100KHz)至高频(10GHz)均能测试。
・也能测试固体、液体。
・垂直于样品表面的方向有一电场、其与微带线和带状线电场方向一致。
・通过分开使用2种不同的电极、能涵盖较广范围的频率。

S参数法

S参数法反射法以及透过法同轴管波导管类、相对介电常数，介电损耗角正切，相对透磁率（εr'/tanδ/μr'/μr“）测试设备・系统　

dps08002011118-04

本测试设备能用反射法及透过法的2种测试方法来测试、根据不同目的能分开运用。两种方法对复数εr和复数μr均能同时测试、各不同测试法请参照下列。
电波吸收材料的吸收率和反射率均能透过计算复数εr和复数μr得出结果。

S参数法自由空间型平板反射法相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备

dps09002981027-08

与同轴管类和波导管类不同，该夹具中因无需放置样品，因此不会出现由气隙引起的误差。另外，根据试样的位置，特性差异、在凹凸不均的情况下能使用获得实用数据。
另外，由于镜头是安装在天线上且较小型，所以样品可以在平面波的情况下进行测试。
测试可通过连接矢量网络分析仪和电脑测试夹具、通过S参数的S11来观测进行。
　　　　　　　　　　

S参数法自由空间型平板透过法相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备

dps21002040614-08

静电容量法

静电容量法　平板、液体、胶状物、超薄膜、复合薄膜介电常数・介电损耗角正切 (εr'/tanδ) 测试设备・系统

dps17002020619-17

能测试各种介质材料的静电容量，介电常数和介电损耗角正切。
具有高精度分辨率和较宽距离测量范围。

入射角度改变法

入射角度改变法介电常数、介电损耗角正切、相对透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 测试设备・系统

dps22002040516-08

利用TE和TM波来测试反射衰减量以及反射相位角的入射角度依赖性。
通过这个测量值反向推算，可以获得复数相对介电常数和复数渗透率。与同轴管类型和波导类型不同，该夹具中并不放置样品，因此不会出现由气隙引起的误差。另外，由于透镜安装在天线上，因而能得到较高的测试精度，尽管设备较小型化但同样可以通过平面波测量。另外，由于从天线发射的无线电波是平行波束，所以可以采用更小的试样。
可知各个频率的εr和μr。

其他

平行导体板型　介质谐振器法相对介电常数·介质损耗角正切（εr'，tanδ）测试设备·系统

dps14002021001-11

主要用于低损耗材料的微波带εr和tanδ高精度测试的设备。
应用于圆柱体试样。
这是JIS标准的JIS R 1627中规定的测试方法。

椭圆偏光法相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备·系统

dps02002051012-05

由于它是标量测试，因此无需昂贵的矢量网络分析仪。另外，通过测试TE波的振幅比和相位与反射系数的TM波之间的差值，可以得出复数相对介电常数和复导磁率。与同轴管类型和波导类型不同，该结构中没有放置样品，因此也不会出现由气隙引起的误差。而且，由于透镜安装在天线上，尽管小型但能通过平面波测试。另外，由于可以在天线附近设置试样，所以试样可更小。
另外，εr和μr针对各个频率都是可知的。

毫米波相对介电常数·介质损耗角正切（εr'，tanδ）测试用遮断圆柱形波导

dps20002001011-01

主要用于毫米波电路的低损耗介电基片的遮断圆柱形波导，介电常数·介质损耗角正切（εr'，tanδ）的测试。

磁材料特性测量系统

磁材料特性测量系统 (可在1MHz至16GHz的宽范围测量)

per01002050701-01

此系统提供磁铁复磁导率 μr' - μ"r 、铁磁共振松弛系数 α、半宽度 ΔH 、飽和磁化 4πMs 的测量。
通过此系统，可以在微带线上设置圆形和方片形样件后使用矢量网络分析仪进行便捷地频扫测试，从而达到非常高的测量精度。
它可以用于1MHz 至 16GHz的测量。
此测量方式发表于以下的国际会议。
Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline "
我方也可以提供委托测量服务

S参数法

S参数法反射法以及透过法同轴管波导管类、相对介电常数，介电损耗角正切，相对透磁率（εr'/tanδ/μr'/μr“）测试设备・系统

dps08002011118-07

S参数法自由空间型平板反射法相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备

dps09002981027-08

S参数法自由空间型平板透过法相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备

dps21002040614-08

与同轴管类和波导管类不同，该夹具中因无需放置样品，因此不会出现由气隙引起的误差。另外，根据试样的位置，特性差异、在凹凸不均的情况下能使用获得实用数据。
另外，由于镜头是安装在天线上且较小型，所以样品可以在平面波的情况下进行测试。
测试可通过连接矢量网络分析仪和电脑测试夹具、通过S参数的S21和S11来观测进行。

入射角度改变法

入射角度改变法介电常数、介电损耗角正切、相对透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 测试设备・系统

dps22002040516-08

椭圆偏光法相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备·系统

dps02002051012-05

试样回转倾斜型静磁场大可变ESR测量系统

esr05002061101-07

最适用于自旋电子学研究。
・测量灵敏度高于标准型X波段ESR / EPR（电子自旋共振）系统。
・可以进行精密的双轴旋转和试样的微小倾斜。
・静磁场可以从零磁场变为强磁场。

自旋子测量出系统

自旋子测量系统

spr01

自旋子测量系统有磁场发生技术与，超低温微波和毫米波技术以及自旋观测技术组成。
KEYCOM通过设计先进测量设备，支持近未来的自旋子技术。

左手性超材料测量系统

透镜天线倾斜入射型左手性超材料测量系(针对2.6GHz至26.5GHz)

met01

此型号适用于左手性超材料的评估。
可以测量材料的反射和传输特性。入射角升至90°用于传输特性的测量。
与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件不放置在夹具中。
尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，是因为透镜安装在天线上。
由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。

无线电波吸收率测量系统

软件

单层/多层型　针对弧线电波吸收体和反射衰减的反射減衰的仿真软件

eas01002010910-07

ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、样件厚度和频率中需要优化的两个变量进行旋转，并让系统执行计算。反射衰减分布会随之显示在轮廓线图中。可通过重复多种组合获得最优化的εr，μr或样件厚度。

透镜天线倾斜入射型无线电波吸收率和反射衰减测量设备 / 远场　

透镜天线倾斜入射型无线电波吸收率和反射衰减测量设备(针对2.6GHz至26.5GHz)

eas03002010704-01

此型号适用于无线电波吸收体和屏蔽材料的评估。
与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很小的样件。
当使用矢量网络分析仪时同样可以测量垂直入射。

平面波与样件表面相位同步
平行波束没有不必要的无线电波入射至透镜
暗室并不必要的
动态范围可通过门控达到50dB及其以上的宽范围、没门控时40dB

透镜天线倾斜入射型(微波用桌上型)无线电波吸收率和反射衰减测量设备(针对26.5GHz至110GHz対応)

eas05002031117-09

>此型号适用于无线电波吸收材料的评估
与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很小的样件。
当使用矢量网络分析仪时同样可以测量垂直入射。

用途:ITS、60GHz无线LAN、汽车防碰撞雷达等

透镜天线垂直入射型　无线电波吸收体・反射衰减测量设备 / 远场

透镜天线垂直入射型　无线电波吸收体・反射衰减测量设备

eas07002981027-10

与同轴管和波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很小的样件。

透镜天线垂直入射型(手提式)　无线电波吸收体・反射衰减测量设备

eas12002041115-12

这是手提式透镜天线垂直入射型　无线电波吸收体・反射衰减测量设备
安装电波吸收体之后可测量反射衰减量。由于容易移动天线，可知道接缝等的影响。与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。

低频率无线电波吸收体・反射衰减测量设备 / 远场

低频率微带线型无线电波吸收体・反射衰减测量设备

eas08002020721-05

可测量MHz频带的电波吸收体的反射衰减，只好使用很小的样件

近场噪声抑制片评估系统 /

内去耦比 / 相互去耦比(Intra DR / Inter DR测量系统)

近场噪声抑制片评估系统
内去耦比 / 相互去耦比(Intra DR / Inter DR测量系统) IECNo.:IEC62333-1, IEC62333-2

nss02

在2003年，日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法，并且此方法在2006年5月正式成为标准(KEYCOM以该委员会的会员参加）。JIS标准化也在2006年6月开始(KEYCOM以该委员会的委员参加）。

KEYCOM在市场上快速推出了符合评估方法的测量套件。
此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的无线电波吸收体。
在小箱子中，电磁波可能被干扰，并且电场和磁场可能会独立存在。
无线电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的无线电波吸收率，从而不会干扰电路的阻抗。

传输衰减功率比测量系统　(TAPR测量系统)

近场噪声抑制片评估系统　(近傍界用電波吸収材料測定装置)
内去耦比 / 相互去耦比(Intra DR / Inter DR测量系统) IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2

nss03

辐射抑制率（Rsr)测量系统

近场噪声抑制片评估系统(无线电波吸收材料测量系统)
暗室并不是必要的
辐射抑制率(Rsr)测量系统 IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2

nss05

近场噪声抑制片评估系统(无线电波吸收材料测量系统)
暗室不必要
辐射抑制率(Rsr)测量系统 IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2

nss04

传输衰减测量系统

毫米波和微波传输衰减测量系统

rts01002040523-02

通过此系统可以在雷达波发射到天线屏蔽器或天线罩时非常简便地测量其频率与传输衰减之间的关系。
尽管非常紧凑，可以通过平面波达到很高的测量精度，因为透镜安装在天线上。
由于样件安装在天线附近，因此可以测量非常小的样件。

毫米波介电常数/介电损耗角正切 (εr'/tanδ) 以及透过衰减量测试系统

rts 02

通过此系统可以简单地测量在毫米波穿透平板时候的衰减量
由于镜头安装在天线上且非常小型化，用平面波也能测试，还能获得较高的测试精度。
另外，由于可以在天线附近放置试样，所以式样可以很小。
如果使用相应软件，还可以测量无线电波吸收材料等的反射衰减量。

微波介电常数/介电损耗角正切 (εr'/tanδ) 以及透过衰减量测试系统

rts04

当微波穿透平板时，从频率和透射衰减量之间的关系来得出出相对介电常数和tanδ。
（注）测量值是测量频带的平均值。实际运作不存在任何问题。
　　　　　由于镜头安装在天线上且非常小型化，用平面波也能测试，还能获得较高的测试精度。
　　　　　另外，由于可以在天线附近放置试样，所以式样可以很小。
　　　　　如果使用相应软件，还可以测量无线电波吸收材料等的反射衰减量。　

垂直型毫米波相对介电常数/介电正切（εr'/tanδ）和传输衰减测量系统相对介电常数/介质损耗角正切（εr'/tanδ）和透过衰减测量测试系统

rts03

能在26.5GHz至110GHz范围测试的系统。
与同轴管类型以及波导管类型不同、该夹具中并不放置样品，因此不会出现由气隙引起的误差。
由于镜头安装在天线上且非常小型化，用平面波也能测试，还能获得较高的测试精度。

屏蔽效应测量系统

用与板材样件的屏蔽效应

同轴管型的射频屏蔽效应测量系统　(10.0KHz至18.0GHz)

sem01002011015-01

此系统符合ASTM D4935(或之前ASTM ES7)标准，可精确测量平面波射频屏蔽效应。
・动态范围为100db以上（取决于所使用的网络分析仪）
・此套件针对同轴管，且有三种类型:153D,39D,以及GPC7。
・数据可导出至CSV文件，用于图形显示。

波导管射频屏蔽效应测量系统　(1.0GHz~90.0GHz)

sem02002011015-01

此系统可在动态宽范围下(100dB)测量样件的射频屏蔽效应(1GHz至40GHz) 由于此系统为波导结构，因此相对于样件平面波的入射角随着频率进行变化。通过此特性，可以测量射频屏蔽效应与相对于样件平面波的入射角的关系

用于线缆的屏蔽效应

用于线缆的屏蔽效应测量系统

sem03002011015-01

此系统采用符合MIL-C-85485A的标准测量方法。它能够有效地评估同轴线缆和多芯线缆同軸(同样也支持远场测量)。通过特征阻抗值可进行校准。

用于线缆的屏蔽效应测量系统(串扰型)

sem04002021210-03

射频屏蔽效应可通过基于串扰方式的测量方法进行。
・适用于不同类型线缆的测量：从同轴线缆到多芯线缆
・使用10dB平板可防止由于特征阻抗的不同所造成的失配

ESP/ESR 测量系统

W波段ESR/EPR(电子自旋共振)测量系统(无氦气)

esr01002021207-11

此系统用于W波段ESR/ESP(电子自旋共振)。因是无氦型而不需要注入氦气。通过使用创新型的介质波导作为毫米波的波导，具备好多特点。
您也可以利用委托测量服务。

X波段ESR(电子自旋共振)测量系统

esr02002021207-12

高灵敏度X波段ESR（电子自旋共振）。简便的测量自由基，可广泛使用在生物邻域至环境科学领域的分析，评估。
您也可以利用委托测量服务。

台式ESR / EPR（电子自旋共振）测量系统（小型/便携式/现场规格/高灵敏度）

esr04002060505-02

非常小型化，且在现场也能简便操作的台式ESR / EPR（电子自旋共振）装置。
其测量精度高于标准型X波段ESR / EPR（电子自旋共振）测量系统。
通过采用稀土类磁体等，从而实现了重量仅约27公斤的小型化。
通过选择安装一个自动液体转移装置，可以在PC控制下进行水溶液的混合测量、分析。
对于过程的监控，手提PC的台式ESR传感器，远程控制等应用有着飞跃式的扩展。

试杨回转，倾斜型静磁场可変ESR测量系统

esr05002061101-07

最适用于自旋电子学研究。
・標测量灵敏度高于标准型X波段ESR / EPR（电子自旋共振）系统。
・可以进行精密的双轴旋转和试样的微小倾斜。
・静磁场可以从零磁场变为强磁场

测试夹具

毫米波・微波测试夹具以及校准套件以及微带线/共面线型 TRL校准套件

mtf01002021130-01

KEYCOM具备从DC到110GHz的校准套件，包括用于印刷电路板两端之间的图形性能测试（边缘类型）以及印刷电路板中的电路测试（探针类型）的。

超低温用毫米波・微波测试夹具/校准套件

upj10002040405-01

为能在超低温下使用而特别设计的用于印刷电路板两端之间的图形性能测试（边缘类型）以及印刷电路板中的电路测试（探针类型）的测试夹具和校准套件。
另外、在注意减小尺寸和热容量的同时，热收缩等的影响也极低。
此外、我们具备从DC到110GHz的所有产品。

同轴型开放・短路负载

mtf02002030111-09

当开路和短路配对时，来自连接器端的相位被调整为相同。

可调短路器(金属波导)

mtf03002020710-09

此可可调短路器用于矩形波导。它的非接触式短路平面可消除因接触失败而造成的不稳定性

测量仪器自动化以及计算・分析程序

S参数法绘制・数据处理软件

sfw02002051013-01

・与安立，安捷伦科技等的矢量网络分析器匹配。
・用GPIB连接电脑，获取振幅，相位等数据，来显示波形。
・频率范围，分辨率，偏移等是可变的。
・数据可以以CSV的形式保存，用Microsoft EXCEL加工也很容易。

针对无线电波吸收体和反射衰减的单层/多层型仿真软件

eas01002010910-07

ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、样件厚度和频率中可以选择需要优化的两个变量进行计算。然后，反射衰减分布会随之显示在轮廓线图中。通过重复多种组合，可获得最优化的εr和μr，或样件厚度。

标准样件

sts01002020101-01

2000年度，作为NEDO（新能源・产业技术综合开发机构）研究委托业务，一般财团法人精细陶瓷中心受托的新产业支援型国际标准开发事业的「通信机器用精细陶瓷的试验评估方法的标准化」业务中，建立了用毫米波评价介电率和介电损失的方法。
当时，以圆形罗宾的测试使用的试样为标准制造了标准试样。

相对介电常数·介电损耗角正切·相对磁导率测量/分析系统

特性

Contents

介电常数，介质损耗角正切 (εr'/tanδ) 测量设备/系统

谐振法 (JIS化・开放式谐振法 JIS R 1660-2) KEYCOM的铃木洋介作为规格草案起草委员参与制作，并于2004年春制作完成)

摄动法

传播延迟法

探头法

S参数法

静电容量法

入射角度改变法

其他

磁材料特性测量系统

磁材料特性测量系统

S参数法

入射角度改变法

椭圆偏光法 相对介电常数，相对磁导率（εr'/μr'）测试设备·系统

试样回转 倾斜型静磁场大可变ESR测量系统

自旋子测量出系统

左手性超材料测量系统

无线电波吸收率测量系统

软件

透镜天线倾斜入射型 无线电波吸收率和反射衰减测量设备 / 远场

透镜天线垂直入射型 无线电波吸收体・反射衰减测量设备 / 远场

低频率 无线电波吸收体・反射衰减测量设备 / 远场

近场噪声抑制片评估系统 /

内去耦比 / 相互去耦比(Intra DR / Inter DR测量系统)

传输衰减功率比测量系统 (TAPR测量系统)

辐射抑制率（Rsr)测量系统

传输衰减测量系统

屏蔽效应测量系统

用与板材样件的屏蔽效应

用于线缆的屏蔽效应

ESP/ESR 测量系统

测试夹具

测量仪器自动化以及计算・分析程序

标准样件

谐振法　　(JIS化・开放式谐振法 JIS R 1660-2)
KEYCOM的铃木洋介作为规格草案起草委员参与制作，并于2004年春制作完成)

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