300GHz~1μHz(超高频/毫米波/微波/UHF/VHF/超低频)的凯科梦
可根据要求进行少量的设计・生产・测试。敬请垂询。

近场噪声抑制片评估系统
内去耦比/相互去耦比(Rda/Rde)测量系统

Model No. NSS02
特性
此系统有两种评估方法用于测量传输线和电路板之间的噪声抑制性能:
  1. 内部去耦比测量系统(Rda:内部去耦比)
  2. 被测样件与测量系统平行放置,
  3. 相互去耦比测量系统(Rde...相互去耦比)
  4. 被测样件穿过测量系统。
1.内部去耦率(Rda),由内部去耦率测量系统测量,是指安装了EMI噪声抑制片后,同一电路板内的耦合被衰减的程度。
2.相互去耦率(Rde),由去耦率测量系统测量,是指安装EMI噪声抑制片后,两个印刷电路板或元件之间的耦合被衰减的量。 在产品开发过程中,是开发EMI噪声表和噪声抑制的有效设备。

规格

符合标准的示例 IEC6233-1, IEC62333-2

内去耦比 (Intra DR) 测量系统


相互去耦比测量系统


订购信息(请告知我方型号、零件号以及其他需求)

零件号 产品名称 频率范围(GHz)
FS-21 夹具 (适用于内去耦和相互去耦类型)  
IT・IB-6B 回路天线(适用于内去耦比/相互去耦比)2件 0.1~6GHz
DMP-002041020-09 程序(适用于去耦合比和传输衰减功率比)  
CM06D-APC2.9(m) APC2.9(m)-1000 用于测量的同轴线缆