近场噪声抑制片评估系统
内去耦比/相互去耦比（Rda/Rde）测量系统

此系统有两种评估方法用于测量传输线和电路板之间的噪声抑制性能：

1. 内部去耦比测量系统（Rda:内部去耦比）
被测样件与测量系统平行放置，
2. 相互去耦比测量系统（Rde...相互去耦比）
被测样件穿过测量系统。

1.内部去耦率（Rda）,由内部去耦率测量系统测量，是指安装了EMI噪声抑制片后，同一电路板内的耦合被衰减的程度。
2.相互去耦率（Rde）,由去耦率测量系统测量，是指安装EMI噪声抑制片后，两个印刷电路板或元件之间的耦合被衰减的量。 在产品开发过程中，是开发EMI噪声表和噪声抑制的有效设备。