电波吸收率(远场・近场)测量系统

Model No. XEA

KEYCOM灵活运用丰富的电波吸收理论、电子材料特性以及程序编辑技术，研发符合实际应用的电波吸收材料技术。

若您对我们的产品感兴趣或在进行研发时遇到困难,请您通过E-mail（info@keycom.co.jp）或电话随时联系，我们的销售人员（中国人）将尽快给您回复。

按照您在研发的材料特性，我们可以给您提出合适的解决方案。

1. 电波吸收材料・反射衰减量测量设备 / 远场

合格标准
JIS　R1679 : 2007
IEC　62431 : 2008

	透镜天线倾斜入射型　电波吸收体電波吸収体・反射衰减测量设备(2.6~26.5GHz/26.5-110GHz) [EAS03]		透镜天线垂直入射型　电波吸收体・反射衰减测量设备 [EAS07]

	此型号适用于电波吸收体和屏蔽材料的评估。与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。其用途包括ITS・ETS用。(当矢量网络分析仪时)此型号同样可以测量。【实现高精度的理由】平面波与样件表面相位同步平行波束没有不必要的电波入射至透镜。暗室并不是必要的		同与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。

	毫米波30mmΦ传输衰减/反射衰减测量系统 (适合雷达罩等测量) [RTS06]		手提式透镜天线垂直入射型电波吸收体・反射衰减测量设备 [EAS12]

	可应对小口径测量的需求。用76.5GHz照射99.9%至30mmΦ。		这是手提类型的透镜天线垂直入射型电波吸收体・反射衰减测量设备。安装电波吸收体之后可测量反射衰减量。由于容易移动天线，可知道接缝等的影响。与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。

	电波传输型恒温箱(-60℃~+200℃)，对电波无影响 [EMD01]

	此恒温箱可测量天线屏蔽器，天线罩，电波吸收体的温度特性，以及它们的射频屏蔽效应。它由一个高温或低温风机和保温箱组成，样件放在其中进行测量(在图片中的箱子与右边的电波吸收体测量(可单独采购)系统安装在一起)。可根据规格要求设计箱体，例如它的尺寸以及需要测量的材料

合格IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2

2003年，一个日本团队向IEC提出了噪音抑制板评估方法的标准化，并在2006年获得通过。
在标准化过程中，KEYCOM作为委员会成员参与其中。

◆4种测量噪声抑制片的标准化方法

从那时起，KEYCOM一直是开发和商业化这种符合IEC标准的测量套件的先行者之一。

该系统是用于评估电波吸收材料，用于防止振荡和移动电话等设备的EMI对策的。

在狭窄的物理环境之下，如智能手机外壳，电磁波是无组织的，电场和磁场是相互独立的。
在这种情况下，要求无线电波吸收材料在近场有较大的电波吸收率，不干扰电路的阻抗。

至于每个系统要测量的数据，如Rda/Rde、Rtp，详细情况可以在下面显示的产品链接中找到。

当然，我们可以根据您的研发需要，为您提出一个最佳系统。请随时与我们联系!

	单层/多层型电波吸收材料，反射衰减量仿真软件 [EAS01]

	样件厚度和频率中需要优化的两个变量进行旋转，并让系统执行计算。反射衰减分布会随之显示在如左图所示的轮廓线图中。可通过重复多种组合获得最优化的εr和μr，或样件厚度。

	设计车标和天线罩用多层平板样件仿真传输衰减量软件 [SFW05]

	此软件可仿真传输和反射衰减，适用于用于设计车标和类似产品。通过设计所用材料(可方便地通过鼠标完成)的介电常数和磁导率，材料厚度和传输/反射衰减之间的关系可实现显示在图像中。图像的绘制以车标等的厚度作为横坐标，以衰减值作为纵坐标。