300GHz~1μHz(超高频/毫米波/微波/UHF/VHF/超低频)的KEYCOM
可根据要求进行少量的设计・生产・测试。敬请垂询。

S参数法 低频
开放式同轴反射法
介电常数,介电损耗正切(Dk, Df/ εr', tanδ) 
测量设备・系统

Model No. DPS12
特性 
当使用电容法测量高达1 GHz的介电常数和介电正切时,它们无法正确测量,因此我们针对低频段开发了可以连续测量的介电常数测量装置。
原则上,样件和夹具之间存在间隙,这会降低精度,但会覆盖只能测量此方法的范围。

※若需要测量磁导率,请利用 磁性材料测量系统PER01

若您对我们的产品感兴趣,请您通过E-mail(info@keycom.co.jp)或电话随时联系,我们的销售人员(中国人)将尽快给您回复。

规格

测量频率 1MHz-1GHz
相对介电常数 测量范围: 2-200     
Accuracy(重复精度):  ±3% (取决于网络分析仪的精度)
重复性+对真实值的正确度:±10%(取决于测量原理和夹具设计)
*取决于样件处理的准确性。
介电损耗角正切 测量范围: 0.01-10  
重复精度: ±6% (取决于网络分析仪的精度)
重复性+对真实值的正确度: ±20% (取决于测量原理和夹具设计)
※取决于样件处理的准确性。
样件尺寸 外径6.93~ 6.96φ 内径3.06~ 3.10φ
※取决于样品处理的准确性。

订购信息(请告知我方型号、零件号以及其他需求)

名称 詳細 零件号
开放式同轴反射法复介电常数测量夹具   DPS12-JIG01A
固定基座 共通固定基座(与磁性材料测量系统共同使用) BS-01A
样件冲孔工具 用于GPC7 CGPC7
计算软件(Windows) 开放式同轴反射法复介电常数测量程序 DPS12-DMP01A
单层型/多层型电波吸收材料,反射衰减模拟软件 根据测得的复数εr和μr,可模拟任何厚度的单层无线电波吸收材料的反射衰减 DMP-70
测量用同轴线缆 1个 CM06D-SMA(m)SMA(m)-1000
GPIB连接线缆   GP-01
矢量网络分析仪 若您没有,我方将为您报价。若您有一个,请告诉我们型号 VNA
Windows 笔记本PC
(包括设置服务和使用说明)
  CP

該非判定

非該当