此测试系统精确测量诸如薄片和印刷基板等材料在10 MHz，50 MHz和100 MHz时的复 介电常数。
发表文章
Hirosuke Suzuki, Satoshi Kobayashi, Toshio Nojima：·"New complex permittivity measurement method at low frequency for measuring low - loss materials using high Q- value LC resonator immersed in liquid nitrogen", Proc. Of IEEE 12MTC, Hangzhou, China, May10-12（2011）
可测量样件
印刷基板, 薄膜, 薄片，陶瓷, 树脂等*这些只是典型的形式，若有其他特殊的样件形式请告知我方
规格
| 频率 | 10MHz, 50MHz, 100MHz （単点测量） |
| 相对介电常数 | 1.05-30 精度±5% |
| 介质损耗因数 | 0.0002-0.05 精度±10% |
| 温度变化 | 常规版本様:室温 特殊版本:请指定您的要求 |
| 样件形式 | φ20mm以上 x 50μm~1mm |
订购信息（请告知我方型号、零件号以及其他需求）
| 零件号 | 产品名称 | 规格 |
| RK-10M | 谐振器套件 | 针对10MHz |
| RK-50M | 谐振器套件 | 针对50MHz |
| RK-100M | 谐振器套件 | 针对100MHz |
| P-dps26 | 测量程序 | |
| P-dps26-OP | 选购程序 | 控制恒温箱程序 |
| CM06D-AA-1000 | 连接线缆 （1m) | 按照频率提供合适的线缆（2件） |
| TCOV-04 | 调控温度设备 | 按照您所需要的温度提供合适的设备 |
| VNA | 网络分析仪 | 可一起订购 |
| PC | Windows PC | 可一起订购 |
| GP-01 | GPIB连接线缆 |