300GHz~1μHz(超高频/毫米波/微波/UHF/VHF/超低频)的KEYCOM
可根据要求进行少量的设计・生产・测试。敬请垂询。

栅电极正下方的MOSFET结构半导体耗尽层和介电膜
相对介电常数(εr')测量设备/系统

Model No. DPS48
特性 
该系统测量MOSFET结构半导体耗尽层和直接在栅电极下方的介电膜的相对介电常数。需要绝缘膜的厚度和掺杂浓度。 *使用偏置

若您对我们的产品感兴趣,请您通过E-mail(info@keycom.co.jp)或电话随时联系,我们的销售人员(中国人)将尽快给您回复。

规格

测量频率 20Hz ~ 2MHz
※取决于型号
测量范围和精度 相对介电常数:1.05-1000   精度±3%~7% (取决于LCR表的型号和测量环境)
*LCR仪表型号示例
基本测量精度 0.05%
AC幅度电压 5mV-2Vrms
DC偏置电压 +-40V
阻抗测量范围 1mΩ-100MΩ
电容测量范围 1pF-0.01F

可测量温度(使用对应夹具) 10k~200℃ 
※详细请与我方联系。
※凭借Keycom在超低温产品方面的专业知识和经验,我方提供10K〜低温低温恒温器。
*自动进行测量。
*通过设计电极结构,可以进行高达100MHz的测量。

订购信息(请告知我方型号、零件号以及其他需求)

名称 规格 频率范围 零件号
电容表(主机) 20Hz-2MHz用   CME-20Hz-2MHz
另外,我方会根据您的要求提出方案。    
测量电极
测量电极
半导体测量电极 1цHz ~ 2MHz DPT-009
介电常数分析程序 可用excel処理   DMP-002040705-05
USB型GPIB卡 用于连接计算机和测量仪器。   GP-01
PC Windows
恒温槽 我方将根据您的要求提出方案。   TCOV-03
恒温槽控制程序     DMP-x

数据示例 

测量结果由计算机处理,并以图形形式打印出来,如上所示。
另外,数值被保存在文件中,并且可以使用EXCEL等执行各种处理。

样品形状和电极配置

DPT-009
180mm height    注)含线缆
样件形状 尺寸・数量
片材 请与我方联系。