300GHz~1μHz(超高频/毫米波/微波/UHF/VHF/超低频)的KEYCOM
可根据要求进行少量的设计・生产・测试。敬请垂询。

电波吸收材料测量服务(近场、远场、
电波资吸收材料・电波吸收率 试验委托)

Model No. eass
特性

基于每年测量超过1000个样件的电波吸收率(电波吸收材料,噪声抑制片,噪声抑制片/近场/远场)的经验,可以提出精确的测量方法和设备的建议 ,快速测量出准确的数据。

KEYCOM不仅在电波吸收材料测量设备方面拥有高水平技术,例如自主开发的设备已JIS标准化,还有丰富的测量,开发经验。我们为许多公司和大学提供了高度可靠的测量结果。

KEYCOM被选为JIS无线电波吸收测量设备委员会的成员。

可测量范围

在此只列出基本的事宜。请联系有关您所需测量的样件。

  方式 频带 样件尺寸
远场 自由空间反射法
・垂直入射
・斜入射
(1GHz)2.6GHz-26.5GHz
450mm×450mm左右
(最小300mm×300mm)
26.5-110GHz
250mm×250mm左右
近场 近场用 0.1GHz-3GHz 100mm×50mm以上
3GHz-18GHz
18GHz-40GHz

KEYCOM的电波吸收率
(电波吸收材料・噪声抑制片/近场・远场)
测量服务

利用丰富的测量服务经验,我方可以提出准确的测量方法和设备,并快速测量出准确的数据。
  • 正常交货时间:1周(如果您急忙,请咨询)
  • 诸如学期末之类的拥挤期:大约2周(如果您急忙,请咨询)
  • 测量所需时间:2-3周(如果您急忙,请咨询)
  • 对于技术上困难的要求和测量,如果理论上可能的话,根据各种测量设备开发经验,目前尚无法解决,
    我们努力使测量成为可能。请咨询我们。 (需要比平时更多的时间。3周〜)
    示例)2005年11月开发的测量方法→低频下超薄薄膜(0.01μm)的介电常数和介电损耗正切测量
    KEYCOM社长是IEC(国际电工委员会/国际电工委员会)标准草案的起草成员。
    KEYCOM开发的介电常数/磁导率测量装置和无线电波吸收测量装置已被JIS标准化。
    *KEYCOM当选为JIS委员会成员。
    ・介电常数的测定
    ・电磁波吸收测定

    KEYCOM被选为IEC,JIS的委员

    ・毫米波段精细陶瓷介电特性的测量方法
    第2部:开放式谐振器方法―JIS R 1660-2:2004―
    ・Noise Suppression Sheet for digital devices and equipment 
    Part2:Definitions and general Properties―IEC62333-1:2006-05―
    Part2:Measuring method―IEC62333-2:2006-05―
    ・毫米波段的电波吸收特性的测量方法―JIS R 1679:2007―
    ・Measurement Methods for Reflectivity of Electromagnetic Wave Absorbers in Millimeter Wave Frequency
    ―IEC62431/Ed(2008年制定予定)
    ・此外,KEYCOM在2006年Europian Microwave Conference上提出了使用微带线的模拟方式测量介电常数和tanδ的方法。EuMc21-4, 2006, Manchester, UK

    咨询

    E-mail:info@keycom.co.jp  FAX: 03-5950-3380(如果您急忙拨打TEL 03-5950-3101)
    请填写以下信息(只有您能理解),并随时与我们联系。
    如有必要,请使用以下“报价单”。销售代表或技术代表将与您联系。

    *联系信息
    *测量所需频率
    *有关样品物质的信息
    *处理样品时的注意事项(电导率,挥发性等)
    *测得的所需温度(常温,其他)
    *如果您希望我们提供样品,请提供详细信息。 示例)酒精度为48度的酒精溶液
    *是否要退还样品

    询价单(MS-Word)

    询价单(PDF)

    下载后,可以打印或保存。填写必要的信息,然后通过传真或电子邮件发送。