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电波吸收率(远场・近场)测量系统

Model No. XEA
不需要暗室的远场测量(对应JIS标准、IEC标准),
对应磁场和电磁场的近场测量(对应IEC标准)的阵容

KEYCOM灵活运用丰富的电波吸收理论、电子材料特性以及程序编辑技术,研发符合实际应用的电波吸收材料技术。

1. 软件

1. 1 针对电波吸收体和反射衰减的单层/多层型仿真软件

  1.1.1 针对电波吸收体和反射衰减的单层/多层型仿真软件 [EAS01]    
  网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/eas/eas1/page.html

ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、样件厚度和频率中需要优化的两个变量进行旋转,并让系统执行计算。反射衰减分布会随之显示在如左图所示的轮廓线图中。可通过重复多种组合获得最优化的εr和μr,或样件厚度。

   

1. 2 设计车标,天线罩用的仿真软件

  1.1.2 设计车标和天线罩用多层平板样件仿真传输衰减量软件 [SFW05]    
  网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/sfw/sfw05/page.html

此软件可仿真传输和反射衰减,适用于用于设计车标和类似产品。
通过设计所用材料(可方便地通过鼠标完成)的介电常数和磁导率,材料厚度和传输/反射衰减之间的关系可实现显示在图像中。
图像的绘制以车标等的厚度作为横坐标,以衰减值作为纵坐标。
   

2. 无线电波吸收体・反射衰减测量设备 / 远场

2.1. 透镜天线方式

依据下列规则制定而成。
JIS R1679 : 2007
IEC 62431 : 2008
  2.1.1 透镜天线倾斜入射型 电波吸收体電波吸収体・反射衰减测量设备(2.6~26.5GHz/26.5-110GHz) [EAS03]   2.1.2 透镜天线垂直入射型 电波吸收体・反射衰减测量设备 [EAS07]
  网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/eas/eas3/page.html

此型号适用于电波吸收体和屏蔽材料的评估。
与同轴管和管波导类型不同的是,它不会因空气气隙产生误差,原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑,但它可以通过平面波测量,因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近,因此可以使用很少的样件。其用途包括ITS・ETS用。
(当矢量网络分析仪时)此型号同样可以测量。

高精度的原因
 
  • 平面波与样件表面相位同步
  • 平行波束没有不必要的电波入射至透镜。
  • 暗室并不是必要的

  •   网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/eas/eas7/page.html

    同与同轴管和管波导类型不同的是,它不会因空气气隙产生误差,原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑,但它可以通过平面波测量,因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近,因此可以使用很少的样件。
      2.3 毫米波30mmΦ传输衰减/反射衰减测量系统(适合雷达罩等测量) [RTS06]   2.1.3 手提式透镜天线垂直入射型电波吸收体・反射衰减测量设备([EAS12]
      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/rts/rts06/page.html

    可应对小口径测量的需求。用76.5GHz照射99.9%至30mmΦ。
      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/eas/eas12/page.html

    这是手提式透镜天线垂直入射型电波吸收体・反射衰减测量设备(2.1.2)。安装电波吸收体之后可测量反射衰减量。
    由于容易移动天线,可知道接缝等的影响。与同轴管和管波导类型不同的是,它不会因空气气隙产生误差,原因是样件并不放置在夹具中。
    尽管非常紧凑,但它可以通过平面波测量,因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近,因此可以使用很少的样件。

    2-2. 电波传输型恒温箱

      电波传输型恒温箱(-60℃~+200℃),对电波无影响 [EMD01]    
      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/emd/emd01/page.html

    此恒温箱可测量天线屏蔽器,天线罩,电波吸收体的温度特性,以及它们的射频屏蔽效应。它由一个高温或低温风机和保温箱组成,样件放在其中进行测量(在图片中的箱子与右边的电波吸收体测量(可单独采购)系统安装在一起)。
    可根据规格要求设计箱体,例如它的尺寸以及需要测量的材料
       

    3. 电波吸收率测量系统 /  近场

    IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2
      近场噪声抑制片评估系统
    内去耦比/相互去耦比(Rda/Rde测量系统)
    IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2 [NSS02]
      近场噪音抑制评估系统
    传输衰减功率比(Rtp)测量系统
    IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2 [NSS03]
      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/nss/nss02/page.html

    在2003年,日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法,并且此方法在2006年5月正式成为标准(KEYCOM以该委员会的会员参加)。JIS标准化也在2006年6月开始(KEYCOM以该委员会的委员参加)。KEYCOM在市场上快速推出了符合评估方法的测量套件。此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的电波吸收体。在小箱子中,电磁波可能被干扰,并且电场和磁场可能会独立存在。电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的电波吸收率,从而不会干扰电路的阻抗。


      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/nss/nss03/page.html

    在2003年,日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法,并且此方法在2006年5月正式成为标准(KEYCOM以该委员会的会员参加)。JIS标准化也在2006年6月开始(KEYCOM以该委员会的委员参加)。KEYCOM在市场上快速推出了符合评估方法的测量套件。此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的电波吸收体。在小箱子中,电磁波可能被干扰,并且电场和磁场可能会独立存在。电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的电波吸收率,从而不会干扰电路的阻抗。

      无带暗箱的噪声抑制片评估系统
    IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2 [NSS05]
      带暗箱的近场噪声抑制片评估系统
    辐射抑制率(Rrs)测量系统
    IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2 [NSS04]
      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/nss/nss05/page.html

    • 无需暗箱即可实现等同于3-m法和10-m法的测量(0.5至26.5GHz)
    • 系统立式形状方便安放样件
    • 由于衰减很少只需要网络分析仪用于测量。

    • 使用介质透镜将从被测样件发射的电波转换成平面波。由于测量是在近场进行的,因此衰减很少,这样便无需使用诸如放大器等额外仪器。所以,从外部过来的电波影响非常小,从而无需使用暗箱。
    • 测量可以通过平面波在近场进行操作,从而在实现进行校准后可以实现等同于3-m法和10-m法的测量。通过XY方向平台移动被测样件和远场观测,可确定被测样件的那部分释放了不必要的电波。
      网上目录⇒ http://www.keycom.co.jp/jproducts/nss/nss04/page.html

    在2003年,日本向IEC提出了噪声抑制片评估的标准化方法,并且此方法在2006年5月正式成为标准(KEYCOM以该委员会的会员参加)。JIS标准化也在2006年6月开始(KEYCOM以该委员会的委员参加)。KEYCOM在市场上快速推出了符合评估方法的测量套件。此套件评估应用在无线电话内部防振荡和电磁干扰措施的电波吸收体。在小箱子中,电磁波可能被干扰,并且电场和磁场可能会独立存在。电波吸收体在这种环境中要求在近场有非常大的电波吸收率,从而不会干扰电路的阻抗。