电波吸收率(远场・近场)测量系统

Model No. XEA

不需要暗室的远场测量（对应JIS标准、IEC标准），对应磁场和电磁场的近场测量（对应IEC标准）的阵容

KEYCOM灵活运用丰富的电波吸收理论、电子材料特性以及程序编辑技术，研发符合实际应用的电波吸收材料技术。

若您对我们的产品感兴趣或在进行研发时遇到困难,请您通过E-mail（info@keycom.co.jp）或电话随时联系，我们的销售人员（中国人）将尽快给您回复。

按照您在研发的材料特性，我们可以给您提出合适的解决方案。

1. 电波吸收材料・反射衰减量测量设备 / 远场

透镜天线方式

合格标准
JIS　R1679 : 2007
IEC　62431 : 2008

透镜天线倾斜入射型　电波吸收体電波吸収体・反射衰减测量设备(2.6~26.5GHz/26.5-110GHz) [EAS03]

此型号适用于电波吸收体和屏蔽材料的评估。与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。其用途包括ITS・ETS用。(当矢量网络分析仪时)此型号同样可以测量。

平面波与样件表面相位同步
平行波束没有不必要的电波入射至透镜。
暗室并不是必要的

透镜天线垂直入射型　电波吸收体・反射衰减测量设备 [EAS07]

同与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。

毫米波30mmΦ传输衰减/反射衰减测量系统(适合雷达罩等测量) [RTS06]

可应对小口径测量的需求。用76.5GHz照射99.9%至30mmΦ。

手提式透镜天线垂直入射型电波吸收体・反射衰减测量设备 [EAS12]

这是手提类型的透镜天线垂直入射型电波吸收体・反射衰减测量设备。安装电波吸收体之后可测量反射衰减量。
由于容易移动天线，可知道接缝等的影响。与同轴管和管波导类型不同的是，它不会因空气气隙产生误差，原因是样件并不放置在夹具中。
尽管非常紧凑，但它可以通过平面波测量，因为透镜安装在天线上。由于放置在天线附近，因此可以使用很少的样件。

2. 电波传输型恒温箱

电波传输型恒温箱(-60℃~+200℃)，对电波无影响 [EMD01]

此恒温箱可测量天线屏蔽器，天线罩，电波吸收体的温度特性，以及它们的射频屏蔽效应。它由一个高温或低温风机和保温箱组成，样件放在其中进行测量(在图片中的箱子与右边的电波吸收体测量(可单独采购)系统安装在一起)。
可根据规格要求设计箱体，例如它的尺寸以及需要测量的材料

3. 噪声抑制片评估系统/ 近场

合格IEC标准No.:IEC62333-1, IEC62333-2

KEYCOM是评估噪声抑制片的先驱者

2003年，一个日本团队向IEC提出了噪音抑制板评估方法的标准化，并在2006年获得通过。
在标准化过程中，KEYCOM作为委员会成员参与其中。

◆4种测量噪声抑制片的标准化方法

内去耦比:[Rda]
相互去耦比:[Rde]
传输衰减功率比:[Rtp]
辐射抑制率:[Rrs]

从那时起，KEYCOM一直是开发和商业化这种符合IEC标准的测量套件的先行者之一。

该系统是用于评估电波吸收材料，用于防止振荡和移动电话等设备的EMI对策的。

在狭窄的物理环境之下，如智能手机外壳，电磁波是无组织的，电场和磁场是相互独立的。
在这种情况下，要求无线电波吸收材料在近场有较大的电波吸收率，不干扰电路的阻抗。

至于每个系统要测量的数据，如Rda/Rde、Rtp，详细情况可以在下面显示的产品链接中找到。

当然，我们可以根据您的研发需要，为您提出一个最佳系统。请随时与我们联系!

内去耦比/相互去耦比测量系统 [Rda/Rde]	传输衰减功率比测量系统 [Rtp]

辐射抑制率（Rrs）测量系统,无需电波暗室 [Rrs-1]	辐射抑制率（Rrs）测量系统 [Rrs-2]
此系统不需要电波暗室*	*此系统需要电波暗室