エンブレム、レドームおよびカバー等による
パターン歪み測定システム

プローブアンテナの垂直方向と測定対象アンテナの回転移動を組み合わせ、円筒状にニアフィールド測定を行い、 測定結果をファーフィールドに変換します。

なお、エンブレムの裏面などのカバーに電波吸収シートを入れ、回り込み電波によるパターン劣化の改善効果を確認することなどにも適しています。

特長

• 円筒スキャンにより、レドーム後方のパターンも測定できます。
• 解析および表示内容が充実しています。
• 高速測定が可能です。
 （例）垂直方向：256ポイント,X回転方向：180ポイント　約30分
  *ベクトルネットワークアナライザの性能に依存します。