キーコムは、誘電体および磁性体に関する長い経験を活かし、比誘電率および比透磁率の非常に高い精度でしかも実用的な測定装置を開発しています。比誘電率、誘電正接 測定法の選定法
誘電率測定法の選定
測定試料による選定
代表的な場合についてのみ、記載しております。下記以外のものについてはお問い合わせください。Ο : 最適
∆ : 測定可能
| 多層構造体 | プリント基板 | フィルム(極薄膜) | 粉体 | シート(板) | ファントム | 電波吸収材料 | ノイズ抑制シート | 土 | コンクリート アスファルト |
果物 野菜 |
液体 | レドーム カバー |
セラミックス | 誘電体共振器 | 強誘電体 | 特徴 | ||
| 開放型 共振器方式 |
18GHz-110GHz | ∆ | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | ∆ | 精度が高い ポイント周波数 位相測定はいらない |
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| 摂動方式 空洞共振器法 |
200MHz-20GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | ||||||||
| ストリップライン 共振器方式 |
800MHz-14GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
| マイクロストリップライン 共振器方式 |
800MHz-14GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
| 伝搬遅延方式 同軸管法 フリースペース法 コプレナーライン法 ストリップライン法 |
45MHz-40GHz | Ο | ∆ | Ο | Ο | Ο | Ο | ∆ | Ο | Ο | 損失の大きいものに対応 周波数スイープ バイアス印加可 |
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| プローブ方式 (オープン) | 200MHz-90GHz | Ο | Ο | ∆ | ∆ | ∆ | Ο | Ο | Ο | ∆ | ||||||||
| プローブ方式 (ショート) | 100kHz-10GHz | Ο | Ο | ∆ | ∆ | ∆ | ∆ | ∆ | ||||||||||
| 入射角変化法 μrも同時に測定可能 |
2.6GHz-110GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | フリースペース | |||||||||||
| 10MHz帯低損失材料用複素誘電率測定システム | 10MHz-15MHz | 低周波 低損失材料に適 |
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| 静電容量方式 | 100Hz-100MHz | Ο | ∆ | Ο | Ο | 低周波 | ||||||||||||
| Sパラメータ方式 μrも同時に測定可能 平板反射法 平板透過法 |
12MHz-40GHz | ∆ | Ο | Ο | Ο | Ο | ∆ | ∆ | 損失の大きい材料に適 ε'r、μ'r測定 |
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| 平行導体型 誘電体共振器法 |
3GHz-26.5GHz | Ο | Ο | ∆ | 精度が高い ポイント周波数 位相測定はいらない |
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| エリプソメトリー法 μrも同時に測定可能 |
26.5-110GHz | Ο | Ο | Ο | ∆ | 位相測定はいらない ε'r、μ'r測定 |
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| 透過減衰量も同時に測定可能 透過減衰量方式/ミリ波タイプ 透過減衰量方式/マイクロ波タイプ 透過減衰量方式/垂直タイプ |
5.0-110GHz | Ο | Ο | 位相測定はいらない 精度は中くらい 校正が簡単 透過減衰量も同時に測定可能ハニカム構造体も測定可能 |
周波数帯、比誘電率、誘電正接(εr', tanδ)による選定
周波数帯、比誘電率、誘電正接 (εr'/tanδ) による選定
測定周波数、方式、サンプルの大きさ(液体量)一覧
" 測定周波数、方式、サンプルの大きさ(液体量) " に関しては、 " こちらを参照してください。 "
ご要望による選定
代表的な場合についてのみ、記載しております。その他もしくは詳細についてはお問い合わせください。
| プリント基板上等の極薄膜を高精度に測定したい (フィルム測定・多層体測定) |
→ | 摂動方式 |
| 単体で存在できないフィルム等を高精度に測定したい (フィルム測定・多層体測定) |
→ | 摂動方式 |
| 高精度(εr +-1% tanδ+-3%)で測定したい | → | 摂動方式 |
| 1mm程度の小さな試料しかない | → | プローブ方式 |
| 超高周波(20GHz-110GHz)でしかも高精度に測定したい | → | 開放型共振器法 |
| 超低周波(10μHz-10Hz)で測定したい | → | 静電容量方式 |
| 液体を測定したい | → | プローブ方式 |
| 粉体を測定したい | → | プローブ方式 |
| ガソリン等揮発物を測定したい | → | プローブ方式 |
| 温度を変化させて測定したい | → | 静電容量方式 |
| 精度は高くなくてもいいので(εr +-7% tanδ+-10%)、 とにかく周波数を振って大雑把に値を求めたい |
→ | Sパラメータ方式 |
| 試料が大きく、しかも切りたくない、もしくは切ることが出来ない (非破壊) |
→ | マイクロストリップライン法 (共振方式) |
| とにかく簡単に測りたい | → | プローブ方式 |
| 誘電率・誘電正接と一緒に透磁率も測りたい | → | Sパラメータ方式 |
キーコムの測定装置および測定技術の特長
キーコムの測定装置および測定技術の特長
Ο 測定サービスを実施しておりますので、豊富な経験を活用し、的確な測定方法・装置をご提案できます。Ο 国内で製作しておりますので、カスタマイズや技術的相談等に対し、速やかにお答えすることが可能です。
Ο 弊社社長はIEC(International Electrotechnical Commission / 国際電気標準会議)規格原案作成の委員で す。
Ο 弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がIEC規格化およびJIS 規格化されました。
誘電率・透磁率測定装置について
Ο 固体・シート・フィルム・粉体・液体(オイル等を含む)・多層構造体等ほとんどのご要望に対して、測定装置を ご提案できます。(カスタマイズ有り。豊富な測定経験、高周波のコンポーネント、ケーブル等の開発経験より、 的確にお応えすることが可能です)Ο 10μHz~110GHzまでの測定のご要望に対して、測定装置をご提案できます。
Ο マイクロ波帯の測定で、εr であれば、精度±1%、tanδであれば、±3% の装置をご提案できます。
Ο ミリ波帯の測定で、εr であれば、精度±3%、tanδであれば、±7% の装置をご提案できます。
Ο 弊社は誘電率測定のIEC化委員およびJIS 化委員に選出されています。
Ο 国内で製作しておりますので、カスタマイズや技術的相談等に対し、速やかにお答えすることが可能です。
Contents
共振方式 (JIS化・開放形共振器法 JIS R 1660-2) |
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| 共振方式 開放型共振器タイプ シート用および極薄シート用 ミリ波 比誘電率、 誘電正接(εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps03002990714-18 | |||||
| 開放型共振器の一種のファブリペロー(Fabry-Perot)共振器を用いていますので、ミリ波領域での測定精度が高いとともに、試料の出し入れが簡単な薄膜対応測定装置です。tanδが小さくても測定できることも特長です。 なお、Windows対応のコンピュータで自動測定いたします。 2005 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference OTTAWA,ONTARIO,CANADAにて 発表しました。 2004年にJIS規格に制定されました。 JIS R 1660-2 |
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| 共振方式 ストリップラインタイプ シート用 比誘電率、誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps50002070405-07 | |||||
| 周波数が800MHzから14GHzにおいてεrが概ね1から40で誘電体損失の比較的小さいシート材料のεrおよびtanδを測定するシステムです。 ASTMD3380 Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates および IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates, Clad or Unclad, for High Speed/High Frequency Interconnections に準拠し、誘電体シートのεr、tanδが測定できる測定キットです。 |
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| 共振方式 マイクロストリップラインタイプ シート用 / 極薄シート用 比誘電率、誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps01002000313-08 | |||||
| 周波数が800MHzから14GHzにおいてεrが概ね1から40で誘電体損失の比較的小さい材料および極薄シート材料のεrおよびtanδを測定する測定器・システムです。 ASTMD3380 Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates および IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates,Clad or unclad,for High Speed/High Frequency Interconnections に準拠し、かつ極薄誘電体シートのεr、tanδも測定できる測定キットです。 |
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摂動方式 |
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| 摂動方式 試料穴閉鎖形 空洞共振器法 極薄シート用 比誘電率、誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps18002031022-11 | |||||
試料のマイクロ波におけるεrおよびtanδを測定する摂動法の高精度測定装置で、ASTM D2520に準拠しています。
また、これは1992年にJISC2565としてJIS規格に定められている方法を、試料を挿入する穴を金属で閉鎖することにより、測定精度を高めたものです。
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伝搬遅延方式 |
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| 本測定法は、電子情報通信学会論文誌C Vol.J85-C No.12 PP.1149-1158 2002年12月 で論文として採択されました。 | |||||
| 伝搬遅延方式 Cut Backタイプ 同軸管法 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps05002981027-10 | |||||
| 周波数が45MHzから40GHzにおいてεrが概ね1.05から500の液体のεrおよびtanδを測定する測定装置・システムです。なお、バイアスを印加することにより、液晶などのεrとtanδの電圧依存性も評価できます。 | |||||
| 伝搬遅延方式 Cut Backタイプ フリースペース法 比誘電率・誘電正接 (εr', tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps06002000831-05 | |||||
| 周波数が500MHzから40GHzにおいて、εrが概ね1.05から500の材料のεrおよびtanδを測定する測定装置・システムです。特に損失の大きい試料の測定に威力を発揮します。 | |||||
| 伝搬遅延方式 Cut Backタイプ コプレナーライン法 比誘電率・誘電正接 (εr', tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps07002010619-24 | |||||
| 周波数が500MHzから65GHzにおいて液体のεrおよびtanδを測定する測定装置・システムです。なお、コプレナーライン上を液体が"0.2mm厚さ程度覆うようにして測定します。また、本システムはコプレナーラインの電磁界シミュレーションソフトを内蔵することにより、液体とコプレナーラインを形成した誘電体との実効比誘電率および実効tanδから液体のεr、とtanδを誘導します。なお、バイアスを印加することにより液晶などのεrとtanδの電圧依存性も評価できます。 | |||||
| 伝搬遅延方式 Cut Backタイプ ストリップライン法 比誘電率・誘電正接 (εr', tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps15 | |||||
周波数が500MHzから40GHzにおいて誘電体シートや粘土性のものなどのεrおよびtanδを測定する測定装置です。また、粉体などを測定する場合、カサ比重と真比重から真の誘電率およびtanδを算出するソフトおよび温度測定装置および温度依存性計算ソフトをoptionで追加できます。なお、バイアスを印加することによりεrとtanδの電圧依存性も評価できます。 |
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プローブ方式 |
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| プローブ方式 オープン法 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps16002021001-11 | |||||
| ・低周波(200MHz)から高周波(90GHz)まで選択することが可能です。 ・固体、液体、粉体を試料として使用できます。 ・純水以外の基準/標準試料を使うことが可能です(アセトン等)。 ・操作が簡単です。
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| プローブ方式(ショート) 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps25002021001-11 | |||||
| ・低周波(100KHz)から高周波(10GHz)まで測定が可能です。 ・固体、液体を試料として使用できます。 ・試料面に垂直方向に電界があり、マイクロストリップラインおよびストリップラインと同じ電界方向です。 ・2種類の電極を使い分けることにより、広い周波数範囲をカバーできます。 |
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Sパラメータ方式 |
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| Sパラメータ方式 反射法および透過法 同軸管、導波管タイプ、比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 測定装置・システム | |||||
| dps08002011118-04 | |||||
| 本測定装置は、反射法および透過法の2つの測定法で測定できるようになっており、目的に応じて使い分けが出来ます。また、双方とも複素εrと複素μrが同時に測定できますが、各測定法の使い分けを次に示します。 なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。 |
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| Sパラメータ方式 フリースペースタイプ 平板用反射法 比誘電率、比透磁率 (εr'/μr') 測定装置 | |||||
| dps09002981027-08 | |||||
| 同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。 なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で測定できます。 測定は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS11を観測することにより行います。 |
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| Sパラメータ方式 フリースペースタイプ 平板用透過法 比誘電率、比透磁率 (εr'/μr') 測定装置 | |||||
| dps21002040614-08 | |||||
| 同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。 なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で測定できます。 測定は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS21およびS11を観測することにより行います。 |
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静電容量方式 |
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| 静電容量方式 平面板、液体、ジェル、極薄膜、複合薄膜 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps17002020619-17 | |||||
| 各種誘電材料の静電容量、比誘電率および誘電正接を測定します。 高精度の分解能と幅広い測定レンジを持っています。 |
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入射角変化方式 |
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| 入射角変化法 比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 測定装置・システム | |||||
| dps22002040516-08 | |||||
| 反射減衰量および反射位相角の入射角依存性をTE波とTM波について測定します。 この測定値から逆推定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定できますので、高い測定精度を得られます。さらに、アンテナから出た電波は平行ビームのため、サンプルは小さくすることができます。 なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。 |
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透過減衰量方式 |
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| ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ) および透過減衰量 測定システム | |||||
| rts 02 | |||||
ミリ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。
標準的なベクトルネットワークアナライザを用い、キャリブレーションの後、レンズ以遠にGATEをかけると透過減衰量 を0.1dB, 誘電率が0.01の分解能で測定できます。 なお、スカラーネットワークアナライザおよびシンセサイズドスイーパーを用いることもできます。 |
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| マイクロ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量 測定システム | |||||
| rts04 | |||||
標準的なベクトルネットワークアナライザを用い、キャリブレーションの後、レンズ以遠にGATEをかけると透過減衰量 を0.1dB, 誘電率が0.01の分解能で測定できます。 なお、スカラーネットワークアナライザおよびシンセサイズドスイーパーを用いることもできます。 |
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| 垂直タイプ ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ) および透過減衰量 測定システム | |||||
| rts03 | |||||
| 26.6GHzから110GHzまで測定可能なシステムです。 ミリ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。 注1)測定値は測定周波数帯域での平均値となります。実用上の問題はありません。 注2)このシステムでは、電波吸収材料等の反射減衰量を求めることはできません。反射減衰量を求めたい場合には、ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量 測定システム[rts02]を御覧下さい。 同軸管タイプや導波管タイプと違い、フイクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。 また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で測定できます。 |
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その他 |
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| 平行導体板型 誘電体 共振器法 比誘電率・誘電正接 (εr', tanδ) 測定装置・システム | |||||
| dps14002021001-11 | |||||
| 主に低損失材料のマイクロ波帯εrおよびtanδの高精度測定装置です。 なお、円柱状の試料を使用します。 また、これはJIS R 1627としてJIS規格に定められている測定方法です。 |
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| エリプソメトリー法 比誘電率、比透磁率 (εr'/ μr') 測定装置・システム | |||||
| dps02002051012-05 | |||||
| スカラー測定であるため、高価なベクトルネットワークアナライザを必要としません。また、反射係数のTE波とTM波の振幅比と位相の差を測定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めることができます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で測定できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。 なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。 |
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| ミリ波 比誘電率・誘電正接 (εr', tanδ) 測定用 遮断円筒 導波管 | |||||
| dps20002001011-01 | |||||
| 主に、ミリ波回路に用いる低損失誘電体基板用、比誘電率・誘電正接(εr'、tanδ) 測定用の遮断円筒導波管です。 | |||||
マイクロ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。測定周波数、方式、サンプルの大きさ(液体量)一覧
*基本的なサイズ、量を記載しています。ご用意可能なサンプルに規定サイズ等がある場合には、ご相談ください。
| 固体 | ||
| 方式 | サンプルの大きさ・形状 | |
| 静電容量法 | 30mmx30mm 厚さ2mm以下 |
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| 液体 | ||
| 方式 | サンプルの大きさ・形状 | |
静電容量方式、円筒法 |
400ml 以上 | |
| 【固体】 | ||||
| 方式 | 周波数帯 | サンプルの大きさ・形状 | ||
| 摂動方式空洞共振器法 | 1.2.3.5.10GHz | 棒(径:周波数による) フィルム 長さ30±0.05mm 幅30±0.05mm 太さ 5mmφ以下か5mm□以下 長さ20~50mm |
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| ストリップライン共振器方式 (マイクロストリップライン共振器方式) |
600M-15GHz | 50mmx100mm程度 (パターン作成は別) |
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| 平行導体板型誘電体共振器法 | 1-26.5GHz | 円柱(周波数1点) h=0.5d[mm] |
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| 伝搬遅延方式 | 400MHz-40GHz | 1レンジ 30mm幅x300mm 厚さ 2mm 以下程度 |
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| Sパラメータ方式反射法 | 39D | 45M-3GHz用 | 39mmφ 厚さ2mm以下 |
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| APC7 | 500M-18GHz用 | 7mmφ 厚さ1mm以下 |
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| Sパラメータ方式透過法 | 39D | 45M-3GHz用 | 39mmφ 厚さ2mm以上 |
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| APC7 | 500M-18GHz用 | 7mmφ 厚さ1mm以上 |
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| 入射角変化法 透過減衰量方式 |
2.6GHz-110GHz | 400mmx600mm 厚さ1-50mm程度 |
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| 【液体、粉体】 | ||||
| 方式 | サンプルの大きさ | |||
| プローブ法 | 300MHz-40GHz | 10cc | ||
| 伝搬遅延方式 | 400MHz-40GHz | 10cc(1レンジ) 10リットル(1レンジ) |
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| 固体 | ||
| 方式 | サンプルの大きさ | |
| 開放型共振器方式 (ファブリペロー法) |
18-110GHz | 70mmx70mmx0.5mm以下 もしくは 
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| フリースペース法 | 2.6GHz-110GHz | 400mmx600mm 厚さ1-50mm程度 |