300GHz~1μHz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/UHF/VHF/超低周波)のキーコム:
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。お気軽にお問合せ下さい。

電波吸収率(遠方界・近傍界)測定システム

Model No. XEA
電波暗室不要の遠方界測定(JIS規格、IEC規格対応)、
磁界および電磁界対応近傍界測定(IEC規格対応)をラインナップ

キーコムは、電波吸収理論、電子材料の特性およびプログラミング技術に関した豊富な経験を活かして、電波吸収材料の実用的な技術を開発しています。

1. ソフトウェア

1. 電波吸収体設計用シミュレーションソフトウェア

単層タイプ/多層タイプ 電波吸収体・反射減衰量 シミュレーションソフト    
EAS01    
ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、試料厚および周波数のうち、最適化させたい2変数を選び、計算させることが出来ます。すると、下図の等高線のように反射減衰量の分布がわかります。
このように、各種組み合わせを数回繰り返すことにより、最適のεrとμr、または試料の厚さを求めることが出来ます。
*ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、試料厚および周波数の各種組合せにおける反射減衰量算出
   

2. エンブレム、レドーム設計用シミュレーションソフトウェア

エンブレム、レドーム設計用多層板透過減衰量シミュレーションソフトウェア    
SFW05    
エンブレムなどの設計に最適な透過減衰量や反射減衰量のシミュレーションソフトウェアです。
使用予定材料の誘電率や透磁率をマウスを用いて設定すると、試料厚さと透過減衰量及び反射減衰量の関係をリアルタイムでグラフ化します。
グラフは、横軸にエンブレムの厚さ、縦軸に減衰量を表示します。
   

2. 遠方界 電波吸収体・反射減衰量測定装置

2-1. レンズアンテナ方式

以下の規格に制定されました。
JIS R1679 : 2007
IEC 62431 : 2008
レンズアンテナ方式 斜入射タイプ 電波吸収体(電波吸収材料)・反射減衰量測定装置(2.6~26.5GHz対応/26.5-110GHz対応   レンズアンテナ方式 垂直入射タイプ 電波吸収体・反射減衰量測定装置
EAS03   EAS07
電波吸収材料・シールド材料等の評価に適しています。
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。ITS・ETS用にも使用されています。
なお、垂直入射の測定も行うことが出来る測定装置です(ベクトルネットワークアナライザを使う場合)。
高精度の理由
・平面波であり、試料面の位相があっています
・平行ビームなので不要の電波がレンズに入射しません
また、
・暗室が必要ありません
・ダイナミックレンジが広く、gatingをかけて 50dB 以上、なしで 40dB です。
  同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
     
ハンディータイプ レンズアンテナ方式 垂直入射タイプ 電波吸収体・反射減衰量測定装置   電波に影響しない電波透過型恒温槽(-60℃~+200℃)
EAS12   EMD01
レンズアンテナ方式 垂直入射タイプ電波吸収体・反射減衰量測定装置の持ち運び可能タイプです。電波吸収体を取り付けた後に反射量を測定することが可能です。
なお、アンテナを容易に動かすことが出来ますので、継ぎ目などの影響もよくわかります。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。
また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
  レドームやカバー、電波吸収体およびシールド効果の温度特性を測定できる恒温槽です。高温・低温ブロアおよび試料を入れて測定する保温ボックスにより構成されます(写真は右側の電波吸収体測定システムにセットした場合。電波吸収体測定システムは別売)。
ご希望の大きさ、試験帯に合わせて設計いたします。

2-2. 低周波用

低周波用マイクロストリップライン方式 電波吸収体・反射減衰量測定システム    
EAS08    
MHz帯用電波吸収体の反射減衰量を小さなサンプルで測定できます。します。    

3. 近傍界  ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)

IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
近傍界用ノイズ抑制シート(ノイズサプレションシート)評価システム
イントラ/インター・デカップリングレシオ測定システム(Rda・Rde測定システム)
IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
  近傍界用ノイズ抑制シート(ノイズサプレションシート)評価システム
トランスミッションアッテネーションパワーレシオ測定システム(Rtp測定システム)
IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
NSS02   NSS03
ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。
なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。
キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。
  ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。
なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。
キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。
     
ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)
電波暗室を使用しない ラジエーションサプレッションレシオ測定システム (Rrs測定システム)
IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
  近傍界用ノイズ抑制シート(ノイズサプレションシート)評価システム 電波暗室用
ラジエーションサプレッションレシオ測定システム(Rrs測定システム)
IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
NSS05   NSS04
電波暗室なしで測定できます。また、高さ1.2m、幅60cm角のコンパクトサイズです。
特徴
・3m法や10m法に準じた測定が電波暗室なしで可能(0.5~26.5GHz)。
・システムが縦型のため、試料交換が容易。
・減衰が少なく、ネットワークアナライザのみで測定可能。
・測定試料からの放射電波を誘電体レンズを用いて平面波に変換します。近距離で測定できるので減衰が少なく、アンプなどを追加する必要がありません。そのため、外来波などの影響が少なく、電波暗室が必要ありません。
近距離でも平面波で測定できるので、あらかじめ校正することによって3m法や10m法に準じた測定が可能です。
  ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。
なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。
キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。