透過減衰量測定システム

Catalog No. rts

レーダ波がレドームやカバーを透過するときの周波数ごとの減衰量を簡単に測定できます。
そのため、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。

rts01002040523-02

レーダー波がレドームやカバーを透過するときの周波数と透過減衰量の関係を簡単に測定できます。
そのため、周波数を変化させることにより、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。

ミリ波比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ) および透過減衰量測定システム

rts 02

ミリ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。
注）測定値は測定周波数帯域での平均値となります。実用上の問題はありません。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、オプションのソフトウエアを用いますと、電波吸収材料等の反射減衰量の測定もできます。　

測定範囲

周波数範囲

26.5~110GHz

試料の大きさ

100mm × 100mm以下

(注)高周波になるに従い、小さな試料でも測定できます。
標準的なベクトルネットワークアナライザを用い、キャリブレーションの後、レンズ以遠にGATEをかけると透過減衰量を0.1dB, 誘電率が0.01の分解能で測定できます。
なお、スカラーネットワークアナライザおよびシンセサイズドスイーパーを用いることもできます。

マイクロ波比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量測定システム

rts04

マイクロ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。
注）測定値は測定周波数帯域での平均値となります。実用上の問題はありません。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、オプションのソフトウエアを用いますと、電波吸収材料等の反射減衰量の測定もできます。　

測定範囲

周波数範囲

5.0~26.5GHz

試料の大きさ

300mm × 300mm以上

垂直タイプミリ波比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ) および透過減衰量測定システム

rts03

26.6GHzから110GHzまで測定可能なシステムです。
ミリ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。
注1)測定値は測定周波数帯域での平均値となります。実用上の問題はありません。
注2)このシステムでは、電波吸収材料等の反射減衰量を求めることはできません。反射減衰量を求めたい場合には、ミリ波比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量測定システム[rts02]を御覧下さい。
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フイクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。
また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で測定できます。

透過減衰量測定システム

Contents