300GHz~1μHz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/UHF/VHF/超低周波)のキーコム:
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。お気軽にお問合せ下さい。

透過減衰量/ビームチルト 測定システム(Insertion Loss, Tilt)

Model No. RTS
Feature
レーダ波がレドームやカバーを透過するときの周波数ごとの減衰量を簡単に測定できます。
そのため、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。

レーダーレドーム、エンブレム用透過減衰量およびチルト測定装置

RTS05
エンブレム評価システム(Matelial Measurement system SM5899/透過減衰量/チルト)
レーダカバーの特性試験(挿入損失とビームチルト)装置です。

遠方界用透過減衰量測定装置(電波暗室不要)

RTS01
ミリ波・マイクロ波透過減衰量測定システム (レーダ用レドーム、カバー測定等に最適)
レーダー波がレドームやカバーを透過するときの周波数と透過減衰量の関係を簡単に測定できます。
そのため、周波数を変化させることにより、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が 得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。

比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量測定システム(電波暗室不要)

RTS02
比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量測定システム
レーダー波がレドームやカバーを透過するときの周波数と透過減衰量の関係を簡単に測定できます。
そのため、周波数を変化させることにより、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が 得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。