300GHz~1μHz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/UHF/VHF/超低周波)のキーコム:
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。お気軽にお問合せ下さい。

電気材料定数/電気材料特性 測定/分析 システム

Model No. XDP
Feature

Contents

比誘電率・誘電正接・比透磁率 測定システム dps
磁性体特性/磁性材料特性(比透磁率も含む)測定システム per
スピントロニクス 測定システム spr
左手系・メタマテリアル 測定システム met
電波吸収率(遠方界・近傍界) 測定システム eas
透過減衰量 測定システム rts
シールド効果 測定システム sem
ESR(電子スピン共鳴) / EPR 測定システム esr
テストフィクスチャ mtf
測定器自動化および計算・分析プログラム sfw
標準試料 sts
   

 

 

 

 

 

 




下記は製品名のみの参考目次です。詳細をご覧になりたい場合には、上部のリンクをクリックしてください。
比誘電率・誘電正接測定システム

共振方式  (JIS化・開放形共振器法 JIS R 1660-2)
キーコム(株)鈴木洋介が規格案作成に委員として参加し、2004年春に制定となりました)

共振方式  開放型共振器タイプ シート用および極薄シート用 ミリ波 比誘電率、 誘電正接(εr'/tanδ) 測定装置・システム
dps03002990714-18
開放型共振器の一種のファブリペロー(Fabry-Perot)共振器を用いていますので、ミリ波領域での測定精度が高いとともに、試料の出し入れが簡単な薄膜対応測定装置です。tanδが小さくても測定できることも特長です。
なお、Windows対応のコンピュータで自動測定いたします。
2005 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference OTTAWA,ONTARIO,CANADAにて
発表しました。
2004年にJIS規格に制定されました。 JIS R 1660-2
・ εr ±3% tanδ ±7% の高精度測定
・ 10μm~0.1mm極薄膜 測定可能
・ 簡単な操作
・ 測定範囲 18GHz-110GHz
共振方式 ストリップラインタイプ シート用 比誘電率、誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム
dps50002070405-07
周波数が800MHzから14GHzにおいてεrが概ね1から40で誘電体損失の比較的小さいシート材料のεrおよびtanδを測定するシステムです。
ASTMD3380 Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates および IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates, Clad or Unclad, for High Speed/High Frequency Interconnections に準拠し、誘電体シートのεr、tanδが測定できる測定キットです。
共振方式 マイクロストリップラインタイプ シート用 / 極薄シート用 比誘電率、誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム
dps01002000313-08
周波数が800MHzから14GHzにおいてεrが概ね1から40で誘電体損失の比較的小さい材料および極薄シート材料のεrおよびtanδを測定する測定器・システムです。
ASTMD3380 Standard method of Test for Permittivity (Dielectric Constant) and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substrates および IPC-L-125 Specification for Plastic Substrates,Clad or unclad,for High Speed/High Frequency Interconnections に準拠し、かつ極薄誘電体シートのεr、tanδも測定できる測定キットです。

摂動方式

摂動方式 試料穴閉鎖形 空洞共振器法 極薄シート用 比誘電率・誘電正接 (εr, tanδ) 測定器・システム
dps18002031022-11
試料のマイクロ波におけるεrおよびtanδを測定する摂動法の高精度測定装置で、ASTM D2520に準拠しています。 また、これは1992年にJISC2565としてJIS規格に定められている方法を、試料を挿入する穴を金属で閉鎖することにより、測定精度を高めたものです。
・±1% tanδ ±3% の高精度測定
・0.1μm極薄膜 測定可能
・多層体(蒸着膜等) 測定可能
・固体・シート・フィルム・粉体・液体(オイル等を含む)・多層構造体等の測定が可能
・簡単な操作
・測定範囲 200MHz-20GHz

伝搬遅延方式

本測定法は、電子情報通信学会論文誌C Vol.J85-C No.12 PP.1149-1158 2002年12月 で論文として採択されました。
伝搬遅延方式  Cut Backタイプ 同軸管法 比誘電率・誘電正接 (εr, tanδ) 測定器・システム
dps05002981027-10
周波数が45MHzから40GHzにおいてεrが概ね1.05から500の液体のεrおよびtanδを測定する測定装置・システムです。なお、バイアスを印加することにより、液晶などのεrとtanδの電圧依存性も評価できます。
伝搬遅延方式  Cut Backタイプ フリースペース法 比誘電率・誘電正接 (εr, tanδ) 測定器・システム
dps06002000831-05
周波数が500MHzから40GHzにおいて、εrが概ね1.05から500の材料のεrおよびtanδを測定する測定装置・システムです。特に損失の大きい試料の測定に威力を発揮します。
伝搬遅延方式  Cut Backタイプ コプレナーライン法 比誘電率・誘電正接 (εr, tanδ) 測定器・システム
dps07002010619-24
周波数が500MHzから65GHzにおいて液体のεrおよびtanδを測定する測定装置・システムです。なお、コプレナーライン上を液体が"0.2mm厚さ程度覆うようにして計測します。また、本システムはコプレナーラインの電磁界シミュレーションソフトを内蔵することにより、液体とコプレナーラインを形成した誘電体との実効比誘電率および実効tanδから液体のεr、とtanδを誘導します。なお、バイアスを印加することにより液晶などのεrとtanδの電圧依存性も評価できます。
伝搬遅延方式  Cut Backタイプ ストリップライン法 比誘電率・誘電正接 (εr, tanδ) 測定器・システム
dps15

周波数が500MHzから40GHzにおいて誘電体シートや粘土性のものなどのεrおよびtanδを測定する測定装置です。また、粉体などを測定する場合、カサ比重と真比重から真の誘電率およびtanδを算出するソフトおよび温度測定装置および温度依存性計算ソフトをoptionで追加できます。なお、バイアスを印加することによりεrとtanδの電圧依存性も評価できます。

プローブ方式

プローブ方式 オープン法 比誘電率・誘電正接 (εr, tanδ) 測定システム
dps16002021001-11
・低周波(200MHz)から高周波(90GHz)まで選択することが可能です。
・固体、液体、粉体を試料として使用できます。
・純水以外の基準/標準試料を使うことが可能です(アセトン等)。
・操作が簡単です。
KEYCOMのプローブ法の特長
○純水以外の標準試料を使用できる
校正用の標準試料として、純水以外にアセトンを使用できます。アセトンは、誘電率などその性質が良く調べられています。また、空気中の水分を吸収しにくく、変質しにくいと共に純水とは違った誘電特性を示します。
○プローブの種類が多い
外径 1.2mmφ、2.2mmφ、3.6mmφ および 6.6mmφ のプローブがあり、試料が粉体などの際、有効です。粒形が大きいときは、外径の大きなプローブを用います。
○周波数範囲が広い
一般に使用されているプローブ法の上限周波数は 50GHz です。しかし、キーコムの場合は 90GHz まで使用可能です。
プローブ方式(ショート) 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム
dps25002021001-11
・低周波(100KHz)から高周波(10GHz)まで測定が可能です。
・固体、液体を試料として使用できます。
・試料面に垂直方向に電界があり、マイクロストリップラインおよびストリップラインと同じ電界方向です。
・2種類の電極を使い分けることにより、広い周波数範囲をカバーできます。

Sパラメータ方式

Sパラメータ方式  反射法および透過法 同軸管、導波管タイプ 比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 測定装置・システム 
dps08002011118-04
本測定装置は、反射法および透過法の2つの測定法で測定できるようになっており、目的に応じて使い分けが出来ます。また、双方とも複素εrと複素μrが同時に測定できますが、各測定法の使い分けを次に示します。
なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。
Sパラメータ方式  フリースペースタイプ 平板用反射法 比誘電率、比透磁率 (εr'/μr') 測定装置
dps09002981027-08
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で測定できます。
測定は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS11を観測することにより行います。
Sパラメータ方式  フリースペースタイプ 平板用透過法 比誘電率、比透磁率 (εr'/μr') 測定装置
dps21002040614-08
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で測定できます。
測定は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS21およびS11を観測することにより行います。

静電容量方式

静電容量方式 平面板、液体、ジェル、極薄膜、複合薄膜 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム
dps17002020619-17
各種誘電材料の静電容量、比誘電率および誘電正接を測定します。
高精度の分解能と幅広い測定レンジを持っています。

入射角変化方式

入射角変化法 比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 測定装置・システム
dps22002040516-08
反射減衰量および反射位相角の入射角依存性をTE波とTM波について測定します。
この測定値から逆推定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定できますので、高い測定精度を得られます。さらに、アンテナから出た電波は平行ビームのため、サンプルは小さくすることができます。
なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。

その他

平行導体板型 誘電体 共振器法 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定装置・システム
dps14002021001-11
主に低損失材料のマイクロ波帯εrおよびtanδの高精度測定装置です。
なお、円柱状の試料を使用します。
また、これはJIS R 1627としてJIS規格に定められている測定方法です。
エリプソメトリー法 比誘電率、比透磁率 (εr'/ μr') 測定装置・システム
dps02002051012-05
スカラー測定であるため、高価なベクトルネットワークアナライザを必要としません。また、反射係数のTE波とTM波の振幅比と位相の差を測定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めることができます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で測定できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。
ミリ波 比誘電率・誘電正接 (εr'/tanδ) 測定用 遮断円筒 導波管
dps20002001011-01
主に、ミリ波回路に用いる低損失誘電体基板用、比誘電率・誘電正接(εr'、tanδ) 測定用の遮断円筒導波管です。
 
磁性体特性測定システム

磁性材料特性測定システム

磁性材料特性 測定システム (1MHzから16GHzまで広範囲に測定可能)
per01002050701-01
磁性材料の複素透磁率 μr' - jμ"r 、強磁性共鳴緩和係数 α 、半値幅 ΔH 、飽和磁化 4πMs を広帯域で測定するシステムです。
円板もしくは正方形板試料を短絡マイクロストリップラインにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。
なお、 1 MHz から 16 GHz まで測定が可能です。
なお、本測定法については、次に示す Conference で発表しました。
Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline "
測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。
 

Sパラメータ方式

Sパラメータ方式  反射法および透過法 同軸管、導波管タイプ、比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'')測定装置・システム
dps08002011118-07
本測定装置は、反射法および透過法の2つの測定法で測定できるようになっており、目的に応じて使い分けが出来ます。また、双方とも複素εrと複素μrが同時に測定できますが、各測定法の使い分けを次に示します。
なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。
 
Sパラメータ方式 フリースペースタイプ 平板用反射法 比誘電率・比透磁率 (εr'/ μr')測定装置
dps09002981027-08
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で計測できます。
計測は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS11を観測することにより行います。
 
Sパラメータ方式 フリースペースタイプ 平板用透過法 比誘電率、比透磁率 (εr'/μr') 測定装置
dps21002040614-08
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で計測できます。
計測は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS21およびS11を観測することにより行います。
 

入射角変化方式

入射角変化法 比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 測定装置・システム
dps22002040516-08
反射減衰量および反射位相角の入射角依存性をTE波とTM波について測定します。
この測定値から逆推定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で計測できますので、高い測定精度を得られます。さらに、アンテナから出た電波は平行ビームのため、サンプルは小さくすることができます。
なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。
 

エリプソメトリー方式

エリプソメトリー法 比誘電率、比透磁率 (εr'/ μr') 測定システム
dps02002051012-05
スカラー測定であるため、高価なベクトルネットワークアナライザを必要としません。また、反射係数のTE波とTM波の振幅比と位相の差を測定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めることができます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で計測できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。
 

試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム

試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム
esr05002061101-07
スピントロニクスなどの研究に最適です。
・標準型XバンドESRシステム以上の測定感度を持っています。
・試料を精密に2軸回転及び微少傾斜できます。
・静磁場を零磁場から高磁場まで変化できます。
 
スピントロニクス測定システム
スピントロニクス測定システム

spr01

スピントロニクス測定システムは、磁場発生技術、超低温用マイクロ波・ミリ波技術およびスピン観察技術などからなります。
キーコム㈱は近未来のスピントロニクスを支援します。なお、次の5種類要素を組み合わせて最適計測装置を設計します。
 
左手系・メタマテリアル測定システム
レンズアンテナ方式 斜入射タイプ左手系・メタマテリアル測定システム (2.6~26.5GHz対応)

met01

左手系・メタマテリアル材料等の評価に適しています。
材料の反射特性および透過特性が測定できます。なお、透過特性の測定のため入射角を90°まで拡げました。
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクスチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。
また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
 
電波吸収率測定システム(電波吸収材料測定システム)

ソフトウェア

単層タイプ/多層タイプ  電波吸収体・反射減衰量シミュレーションソフト
eas01002010910-07
ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、試料厚および周波数のうち、最適化させたい2変数を選び、計算させることが出来ます。すると、下図の等高線のように反射減衰量の分布がわかります。このように、各種組み合わせを数回繰り返すことにより、最適のεrとμr、または試料の厚さを求めることが出来ます。

遠方界 斜入射タイプ 電波吸収体・反射減衰量測定装置

レンズアンテナ方式 斜入射タイプ 電波吸収体(電波吸収材料)・反射減衰量測定装置(2.6~26.5GHz対応)
eas03002010704-01
電波吸収材料・シールド材料等の評価に適しています。
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で計測できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。ITS・ETS用にも使用されています。
なお、垂直入射の測定も行うことが出来る測定装置です(ベクトルネットワークアナライザを使う場合)。
高精度の理由
・平面波であり、試料面の位相があっています
・平行ビームなので不要の電波がレンズに入射しません
また、
・暗室が必要ありません
・ダイナミックレンジが広く、gatingをかけて 50dB 以上、なしで 40dB です。
レンズアンテナ方式 斜入射タイプ ミリ波用 卓上型 電波吸収体・反射減衰量測定装置(26.5-110GHz対応)
eas05002031117-09
電波吸収材料の評価に使用します。
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で計測できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、垂直入射の測定も行うことが出来ます(ベクトルネットワークアナライザを使う場合)。

用途:ITS、60GHz無線LAN、自動車の衝突防止装置等

遠方界 垂直入射タイプ 電波吸収体・反射減衰量測定装置

レンズアンテナ方式 垂直入射タイプ 電波吸収体・反射減衰量測定装置
eas07002981027-10
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で計測できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
ハンディータイプ レンズアンテナ方式 垂直入射タイプ 電波吸収体・反射減衰量測定装置
eas12002041115-12

レンズアンテナ方式 垂直入射タイプ電波吸収体・反射減衰量測定装置の持ち運び可能タイプです。電波吸収体を取り付けた後に反射量を測定することが可能です。
なお、アンテナを容易に動かすことが出来ますので、継ぎ目などの影響もよくわかります。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。
また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で計測できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。

遠方界 低周波用 電波吸収体・反射減衰量測定装置

低周波マイクロストリップライン方式 電波吸収体・反射減衰量測定システム
eas08002020721-05
MHz帯用電波吸収体の反射減衰量を小さなサンプルで測定できます。

近傍界  ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)

イントラ/ インター・デカップリングレシオ測定システム (Intra DR / Inter DR測定システム)

ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)
イントラ/ インター・デカップリングレシオ測定システム (Intra DR / Inter DR測定システム) IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
nss02

ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。

キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。

トランスミッションアッテネーションパワーレシオ測定システム (TAPR測定システム)

ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)
イントラ/ インター・デカップリングレシオ測定システム (Intra DR / Inter DR測定システム) IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
nss03

ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。

キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。

ラジエーションサプレッションレシオ測定システム (RSR測定システム)

ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)
電波暗室を使用しない
ラジエーションサプレッションレシオ測定システム (RSR測定システム) IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
nss05

ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。

キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。

ノイズ抑制シート特性評価システム (近傍界用電波吸収材料測定装置)
電波暗室使用
ラジエーションサプレッションレシオ測定システム (RSR測定システム) IEC規格No.:IEC62333-1, IEC62333-2
nss04

ノイズ抑制シートの評価方法について、日本は2003年、IECに規格化を提案し、2006年5月に制定されました (キーコムも委員として参加)。なお、2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。

キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。
携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。
狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。
このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。

透過減衰量測定システム
ミリ波・マイクロ波レーダ用レドーム、カバー透過減衰量測定システム
rts01002040523-02
レーダー波がレドームやカバーを透過するときの減衰量を簡単に測定できます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が
得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ) および透過減衰量 測定システム
rts 02
ミリ波が平板を透過するときの減衰量を簡単に測定できます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が 得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、オプションのソフトウエアを用いますと、電波吸収材料の反射減衰量の測定もできます。
マイクロ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)および透過減衰量 測定システム
rts04
マイクロ波が平板を透過するときの周波数と透過減衰量の関係から比誘電率とtanδを求めます。
注)測定値は測定周波数帯域での平均値となります。実用上の問題はありません。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が 得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
なお、オプションのソフトウエアを用いますと、電波吸収材料等の反射減衰量の測定もできます。 
垂直タイプ ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ) および透過減衰量 測定システム
rts03
26.6GHzから110GHzまで測定可能なシステムです。
同軸管タイプや導波管タイプと違い、フイクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。
また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で測定できます。
 
シールド効果測定システムシールド効果測定システム

シート状試料のシールド効果を測定したい

同軸管タイプ シールド効果 測定システム (12.0MHz~18.0GHz)
sem01002011015-01
本システムは、ASTM D4935に準拠しており、シールド効果を平面波で精度良く測定するためのものです。
・100db以上のダイナミックレンジがあります。
・このキットは同軸管用であり、153D、39D、20DおよびGPC7タイプがあります。
・データをExcel形式でファイルし、これを用いてグラフを再現できます。
導波管タイプ シールド効果 測定システム (1.0GHz~90.0GHz)
sem02002011015-01
試料のシールド効果を1GHz~40GHzにわたってダイナミックレンジ100dBの広いレンジで測定できます。 なお、本システムは導波管構造ですので、試料への平面波の進入角度が周波数ごとに変化します。このことにより、平面波の試料への 進入角度とシールド効果の関係も測定できます。

ケーブルのシールド効果を測定したい

ケーブル用 シールド効果 測定装置・システム
sem03002011015-01
MIL-C-85485Aに準拠する標準的測定(計測)方法です。同軸ケーブル・多心(芯)ケーブルの評価に有用です(遠方界にも対応)。また、特性インピーダンスの値による補正も行うことができます。
クロストークタイプ ケーブル用 シールド効果 測定システム
sem04002021210-03
クロストーク法に基づく測定法で、シールド効果が難しい準備無しでほとんど失敗無く測定できます。
・同軸ケーブルから、多心ケーブルまで対応しています。
・10dBのパッドを用いることにより特性インピーダンス違いによるミスマッチングを防止しています。

 

ESR(電子スピン共鳴)システム
WバンドESR(電子スピン共鳴)測定システム(ヘリウムフリー)
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高感度なWバンドESR(電子スピン共鳴)分光計システムです。ヘリウムフリータイプですので、ヘリウム注入が必要ありません。なお、ミリ波導波路に新しい発想で誕生した誘電体導波路を用いることにより、種々の特長があります。
なお、測定(分析受託試験)サービスもご利用ください。

XバンドESR(電子スピン共鳴)測定システム
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高感度なXバンドESR(電子スピン共鳴)測定システムです。フリーラジカルを簡単に測定でき、生体関連分野から環境科学まで、分析機器、評価機器として幅広く使用できます。
なお、測定(分析受託試験)サービスもご利用ください。

卓上型ESR測定システム(小型/ポータブル/現場仕様/高感度)
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非常にコンパクトで、現場でも使いやすい卓上型ESR装置です。
標準型XバンドESRシステム以上の測定感度を持っています。
希土類磁石等の採用により重量約28kgの小型化を実現しました。
自動送液ユニットをオプションでつけることにより、水溶液試料の混合測定・解析をPC制御下で行うことも可能です。
プロセス監視用、手持ちのPCによる卓上ESRセンサー、遠隔操作など用途が飛躍的に 拡大します。
試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム
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スピントロニクスなどの研究に最適です。
・標準型XバンドESRシステム以上の測定感度を持っています。
・試料を精密に2軸回転及び微少傾斜できます。
・静磁場を零磁場から高磁場まで変化できます。

 
テストフィクスチャ
ミリ波・マイクロ波テストフィクスチャおよびマイクロストリップライン・コプレナーラインタイプ TRL校正キット
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プリント板の端部間のパターン性能テスト用(エッジタイプ)およびプリント板内の回路テスト用(プローブタイプ)など、キーコムは110GHzまでのテストフィクスチャを揃えています。
 
超低温用 ミリ波・マイクロ波テストフィクスチャ/キャリブレーションキット
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特に超低温下で使用されるように考えた、プリント板の端部間のパターン性能テスト用(エッジタイプ)およびプリント板内の回路テスト用(プローブタイプ)のテストフィクスチャおよび校正キットです。
なお、小型化および熱容量を小さくするよう配慮すると共に、熱収縮などの影響も極力小さくしています。
また、DCから110GHzまでの製品を揃えています。
同軸タイプ オープン・ショート・ロード
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オープンとショートがペアの場合はコネクタ端部からの位相を同一に調整してあります。
 
チューナブルショート(金属導波管)
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矩形導波管用のチューナブルショートで、ショート面が非接触タイプになっていますので、非接触不良による不安定さはありません。
測定器自動化および計算・分析プログラム
Sパラメータ方式 グラフ化・データ処理ソフトウエア
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・アンリツ、アジレントテクノロジー社などのベクトルネットワークアナライザに対応しています。
・GPIBでパソコンと接続し、振幅や位相などのデータを取り込んで波形を表示します。
・周波数範囲、分解能、オフセットなどが可変です。
・データはCSV形式にて保存できますので、Microsoft EXCELでの加工も容易です。
単層タイプ/多層タイプ 電波吸収体・反射減衰量 シミュレーションソフト
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ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、試料厚および周波数のうち、最適化させたい2変数を選び、計算させることが出来ます。すると、下図の等高線のように反射減衰量の分布がわかります。このように、各種組み合わせを数回繰り返すことにより、最適のεrとμr、または試料の厚さを求めることが出来ます。
*ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、試料厚および周波数の各種組合せにおける反射減衰量算出
*画面化、画面の部分拡大
*両面コピー、Excelへの貼り付けが出来ます。
*Windows に対応

 

標準試料
標準試料
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平成12年度新エネルギー・産業技術総合開発機構研究受託業務として(財)ファインセラミックセンターが受託した新規産業支援型国際標準開発事業「通信機器用ファインセラミックスの試験評価方法の標準化」においてミリ波帯での誘電率、誘電損失の評価方法の確立を行った。
その際、ラウンドロビン試験に用いた試料を標準として標準試料を製作した。