300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

磁性体特性/磁性材料特性(透磁率も含む)測定システム

Model No. PER01
100kHzから30GHzまで広範囲に測定可能! 誘電率の影響を排除し、シミュレーション値に良好に一致!!
100 kHz ~ 30 GHz の広帯域な測定システムを シームレスな形で提供します 。
磁性材料の複素透磁率 μr' - jμr"( 20~ 30GHz は測定サービスにてご対応) 、半値幅 ΔH、強磁性共鳴緩和係数 α (100MHz~10GHz)を広帯域で測定するシステムです。
試料を測定ジグにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。

① 明快な測定原理 --- 反射法
② 単純な操作方法 --- Field 法、Remove 法
③ コンパクトな装置 --- 搬送自由

測定(分析受託試験)サービスもご利用ください。

受賞

2013.4
The 11th International Conference on Ferrites 第11回国際フェライト会議 (略称 ICF11) におきまして、当製品 "High Frequency Magnetic Measurement System from 100kHz to 10GHz" が ICF11 New Product &Novel Technology Award を受賞いたしました。

規格

IEC 60556 Ad2・2(2016)
IEC/TR 63307 Ed.1.0:2020(en)

論文

S. Takeda and H. suzuki, "Wideband Measurement System of ΔHω using All Sheielded Shorted Microstrip Line", J. Magn. Soc. Jpn., 33, 171-174, (2009)
S. Takeda, S. Motomura, T. Hotchi, and H. Suzuki, "Permeability Measurement System up to 10GHz using All Shielded Shorted Microstrip Line", Journal of the Japan Society of Powder and Powder Metallurgy, vol.61, (2014), No. S1, ppS303-S307
S.Takeda, T.Hotch, S.Motomura, and H.Suzuki. "Theoretical Consideration on Short-& Open-circuited Transmission Lines for Permeability & Permittivity Measurement" Journal of the Magnetics Society of Japan Vol.39, No.3 2015
S.Takeda, T.Hotch, S.Motomura, and H.Suzuki, "Permeability Measurements of Magnetic Thin Films using Shielded Short-Circuited Microstrip Lines" J.Magn.Soc.Jpn., 39, 227-231(2015)

仕様

周波数 透磁率 : 100kHz-30GHz
(20~30GHzは測定サービスにて対応)
半値幅ΔH, 強磁性共鳴緩和係数 α : 100MHz-10GHz
μr' - jμr" D-jig精度±5% ※最適厚みの場合
Accuracy( 繰り返し精度):  ±1% もしくは ±0.01 (ネットワークアナライザの精度に依存する)
試料形状 下記に記載
温度範囲 通常仕様:常温

測定画面例

製品番号および部品番号

製品番号

PER01 (基本セットとして、次が含まれます。)

部品番号 内容 詳細 測定周波数 試料の大きさ
BS-01A 固定台 共通固定台    
M-5000F ゼロ補正用磁界装置 5000 Oe 固定    
TRO-001D 測定治具(透磁率) トロイダルサンプル用治具 100kHz-10GHz 外径 6.93~ 6.96mm 内径 3.06~ 3.10mm
厚み:試料により異なる
厚み例)0.1mm~ 0.3mm(10MHz-100MHzで透磁率20~30の場合)
CM06A-SMA(m)SMA(m)-1000 ケーブルアセンブリ 18GHz同軸ケーブルアセンブリ 1m    
GP-01 GPIBインターフェース USBタイプGPIBカード    
SS システムセットアップ導入および使用方法説明      

部品番号(オプション)

透磁率測定用

部品番号 内容 詳細 測定周波数 試料の大きさ 試料厚
M-3000F ゼロ補正用磁界装置 3000 Oe 固定      
ST-001A 測定治具(透磁率) 矩形サンプル用治具 (M-3000Fが必要) 100kHz~100MHz 10 x 30mm 最大0.34mm (試料による)
※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-002B 測定治具(透磁率) 矩形サンプル用治具 (M-3000Fが必要) 10MHz~1GHz 10 x 30mm 最大0.34mm (試料による)
※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-003C 測定治具(透磁率) 矩形サンプル用治具 (M-5000Fが必要) 最適周波数1GHz~10GHz
測定可能周波数100MHz-10GHz
5 x 16mm 最大0.34mm (試料による)
※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-004D 測定治具(透磁率) 矩形サンプル用治具 (M-5000Fが必要) 最適周波数10GHz~20GHz
測定可能周波数1GHz~20GHz
2 x 6mm 最大0.2mm (試料による)
※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-005E2 測定治具(透磁率) 薄膜サンプル用治具 (M-5000Fが必要) 1GHz-20GHz 2 x 6mm 最大0.2mm (試料による)
※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
DMP-PER01-01A 測定用ソフトウェア 複素透磁率 μr' - jμ"r 測定用(反磁界補正付き)      
OP-DMP-PER01-03A 測定用ソフトウェア 複素透磁率 μr' - jμ"r 測定用薄膜オプション     目安(試料による)
μ=10程度の場合
80 nmで1GHz程度、1umで30GHz程度
VNA ネットワークアナライザ お持ちでない場合      
CP Windows PC        
※磁性は形状効果がございますが、形状効果の測定も可能です。


半値幅 ΔH、強磁性共鳴緩和係数 α 測定用

部品番号 内容 詳細 測定周波数 試料の大きさ 試料厚
M-130A 静磁界印加装置 100~130 Oe ±10%      
M-690A 静磁界印加装置 560~690 Oe ±10%      
M-1400A 静磁界印加装置 1200~1400 Oe ±10%       
M-2000A 静磁界印加装置 1700~2000 Oe ±10%       
M-2500A 静磁界印加装置 2100~2500 Oe ±10%      
M-4500A 静磁界印加装置 3600~4500 Oe ±10%      
SQ-001A 測定治具(半値幅 ΔH) 半値幅 ΔH 用治具 100MHz~10GHz 5 x 5mm 最大0.25mm (試料による)
DMP-PER01-02A 測定用ソフトウェア 半値幅 ΔH、強磁性共鳴緩和係数 α 測定用      
*この他に試料に適した電磁石が必要な場合があります。

構成

測定例

複素透磁率μ' -jμ" NSSトロイダル 7mmΦ x 3mmΦ

複素透磁率μ' -jμ" NSS矩形 5mm x 16mm

複素透磁率μ' -jμ" NSSトロイダルと反磁界補正後の矩形サンプルとの結果比較

Customers (Area or Country, sales)

Tohoku University(Japan, -), Research Institute for Electromagnetic Materials / Denjiken(Japan, -), N(Japan, US$750 billion), A(Japan, US$6 billion), R(Japan, US$85 billion),, M(Japan, US$1 trillion), F(Japan, US$2 trillion)
Xi'an Jiaotong University(China, -), S(Asia, US$30 billion) , I(US, US$6 trillion) etc.