300GHz~1μHz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/UHF/VHF/超低周波)のキーコム:
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。お気軽にお問合せ下さい。

エンブレム評価システム
(Matelial Measurement system SM5899/透過減衰量/チルト)

Model No. RTS05
レドームおよびエンブレムの測定が可能!
レーダカバーの特性試験(挿入損失とビームチルト)装置です。

特性


周波数範囲 76~77GHz
使用温度範囲 0度~40度
データ更新速度 4Hz(250ms/点)
角度の測定精度 ±0.25°
レーダカバーの挿入損失とビームチルトの同時測定 

製品番号および部品番号-SM5899システム構成例

型名 製品名 数量 備考
SM5899 レーダ・アライメントシステム(RAS) 1  
  DC電源(DC12V, 3A) 1  
  VGAモニタ 1  
SG76-77G シンセサイザ 1  
SM5888 逓倍器 1  
  RFケーブル, 2m, SMAオスコネクタ 1  
  標準ホーンアンテナ(固定治具付) 1  
  RAS固定治具 1  
  材料固定治具 1  

・DC電源は、ご指定のものを別途ご相談に応じます。
・VGAモニタには標準のPC用モニタが使用できます。


高性能エンブレム評価装置

周波数範囲 76~77GHz
使用温度範囲 0度~40度
データ更新速度 4Hz(250ms/点)
角度の測定精度 ±0.1°
レーダカバーの挿入損失とビームチルトの同時測定 

*ビームの半値幅(-3dB)の測定可
*同時に複数の周波数(20ポイント)での測定が可能