仕様
測定可能周波数 | 100kHz-18GHz(性能保証は500MHz以上) |
εr' | 2-500 精度±10% |
tanδ | 0.01-20 精度±20% |
μr' | 1-100 精度±10% |
μr" | 0.01-20 精度±20% |
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品名 | 詳細 | 部品番号 反射法用計測キット |
部品番号 透過法用計測キット |
同軸管タイプ 測定キット | GPC7用 試料の大きさ : 7mmφ |
CM-7 | CM-7+CM-7T |
同軸管用 固定装置 | 同軸管用 校正・測定キット 精密取付固定具 | 03KO | 03KO |
試料打抜き具 | GPC7用 | CGPC7 | |
計算ソフトウエア(Windows対応) | 同軸管タイプ反射法プログラム | DMP-01 | |
同軸管タイプ透過法Sパラメータ法プログラム | DMP-03 | ||
DMP-01,DMP-03統合プログラム | DMP-07 | DMP-07 | |
電波吸収体:反射減衰量シミュレーションプログラム | 計測した複素εrとμrから、任意の厚さの単層である電波吸収材料の反射減衰量をシミュレーション可能 | DMP-70 | DMP-70 |
測定用同軸ケーブル | 反射法:1本 透過法:2本 | CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-1000 | CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-1000 |
SMA(f)APC7アダプタ | 反射法:1個 透過法:2個 | SMA(f)APC7 | SMA(f)APC7 |
GPIB接続ケーブル | GP-01 | GP-01 | |
ネットワークアナライザ | 併せてご購入頂けます。 | VNA | VNA |
Windows PC(プリンタ付) | 併せてご購入頂けます。 |
校正方法
測定のはじめにまず、ベクトルネットワークアナライザの校正を行います。
校正はオープン、ショート、ロードおよびスルーを使用したベクトル誤差補正を行う完全な方法です。なお、同軸管のオープンとショートは固定タイプになります。
計測キットの校正を行った後に、試料の測定を行います。
なお、計測キットの校正は、計測キットを用いて通常ショートとオープンで行います。
データ例