300GHz~1μHz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/UHF/VHF/超低周波)のキーコム:
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。お気軽にお問合せ下さい。

Sパラメータ方式  反射法および透過法
同軸管、導波管タイプ
比誘電率、誘電正接、比透磁率
(εr'/tanδ/ μr'/ μr'')測定装置・システム

Model No. zzz19
Feature
本測定装置は、反射法および透過法の2つの測定法で測定できるようになっており、目的に応じて使い分けが出来ます。また、双方とも複素εrと複素μrが同時に測定できますが、各測定法の使い分けを次に示します。
なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。

*反射法*
薄い試料の測定に適しています。(2mm以下)
tanδが小さい材料の測定が正確に出来ます。(0.01以上)
治具の数が少なくてすみます。
*透過法*
厚い試料の測定に適しています。(2mm以上)
損失の大きい材料の測定に適しています。0.1以上)
反射法治具に追加治具が必要です。

測定はコンピュータで行いますが、その特長を次に示します。
* 横軸を周波数にした、εr'、tanδ、μr、μr"がグラフの形で表示されます。また、すべてのデータはエクセルなどに対応して取り出せます。ですからデータ加工、論文等への記載など文書への利用が可能です。
従って、データの加工、論文等への記載など文書への利用が容易です。

拡張性
*測定キットの追加により、フリースペース法による測定も可能です。

仕様

測定可能周波数 100kHz-18GHz(性能保証は500MHz以上)
εr' 2-500     精度±10%
tanδ 0.01-20    精度±20%
μr' 1-100     精度±10%
μr" 0.01-20    精度±20%

オーダー情報 - Model No. および 部品番号(もしくはご要望) をお知らせください

品名 詳細 部品番号
反射法用計測キット
部品番号
透過法用計測キット
同軸管タイプ 測定キット GPC7用
試料の大きさ : 7mmφ
CM-7 CM-7+CM-7T
同軸管用 固定装置 同軸管用 校正・測定キット 精密取付固定具 03KO 03KO
試料打抜き具 GPC7用 CGPC7  
計算ソフトウエア(Windows対応) 同軸管タイプ反射法プログラム DMP-01  
  同軸管タイプ透過法Sパラメータ法プログラム   DMP-03
  DMP-01,DMP-03統合プログラム DMP-07 DMP-07
電波吸収体:反射減衰量シミュレーションプログラム 計測した複素εrとμrから、任意の厚さの単層である電波吸収材料の反射減衰量をシミュレーション可能 DMP-70 DMP-70
測定用同軸ケーブル 反射法:1本 透過法:2本 CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-1000 CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-1000
SMA(f)APC7アダプタ 反射法:1個 透過法:2個 SMA(f)APC7 SMA(f)APC7
GPIB接続ケーブル   GP-01 GP-01
ネットワークアナライザ 併せてご購入頂けます。 VNA VNA
Windows PC(プリンタ付) 併せてご購入頂けます。    

校正方法

測定のはじめにまず、ベクトルネットワークアナライザの校正を行います。
校正はオープン、ショート、ロードおよびスルーを使用したベクトル誤差補正を行う完全な方法です。なお、同軸管のオープンとショートは固定タイプになります。
計測キットの校正を行った後に、試料の測定を行います。
なお、計測キットの校正は、計測キットを用いて通常ショートとオープンで行います。

データ例