300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

キーコムは、1Hz~300GHz
(超低周波/VHF/UHF/マイクロ波/ミリ波/超高周波)
分野における、優れた技術を開発しています。



キーコムは、1Hz~300GHz　 (超低周波/VHF/UHF/マイクロ波/ミリ波/超高周波)　分野における、優れた技術を開発しています。
超低周波/VHF/UHF/マイクロ波/ミリ波/超高周波　分野における技術・製品(誘電率測定システム・電波吸収率測定システム・コンポーネント・伝送線路および装置、ESR装置・アンテナ・各種ケーブル等)に関し、開発やご利用方法等のご相談がございましたら、
E-mail:info@keycom.co.jp もしくはお電話にて、お気軽にお問い合せください。

また、オンライン会議も柔軟に実施します（プラットフォームは問いません）。
ご希望の方は、上記メールアドレスに、以下の内容を記載してください。

・オンライン会議希望
・希望日時（例:４月１日　１４時以降で１時間程度）


「ポスト5G情報通信システム基盤強化研究開発事業」採択

国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構（NEDO）の
「ポスト5G情報通信システム基盤強化研究開発事業」に係る公募へ応募し、採択されました。

2025 年度ポスト5G情報通信システム基盤強化研究開発事業 ／ポスト5G情報通信システムの開発 ／量子コンピュータの産業化に向けた開発の加速（委託、助成）

課題番号 / 研究開発計画項目
課題②-1/g5-2-1～g5-2-6：産業化に向けた量子コンピュータの部素材の高度化に関する技術開発（助成）

採択事業テーマ：
極低温環境で動作可能な高周波信号伝送系の高性能化の研究技術開発

「月面開発のための宇宙資源開発拠点」への参加

東京大学が、JAXAが推進する宇宙戦略基金事業「SX研究開発拠点」において、
「月面開発のための宇宙資源開発拠点」に採択されました。
キーコムも連携機関として、本プロジェクトに参加します。

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総務省「令和7年度から新たに実施する電波資源拡大のための研究開発に係る提案公募」採択

総務省「令和7年度から新たに実施する電波資源拡大のための研究開発に係る提案公募」へ提案を行い、採択されました。
報道資料 https://www.soumu.go.jp/menu_news/s-news/01kiban09_02000545.html

研究開発課題
「光回線を代替する高ミリ波帯固定無線通信に関する研究開発」

ア
技術課題：無線リンク安定化技術
研究機関：キーコム株式会社、国立大学法人東京科学大学

イ
技術課題：高効率並列無線通信技術 研究機関：キーコム株式会社、国立大学法人東京科学大学、国立研究開発法人防災科学技術研究所

オリジナル・高性能・現場でしっかり使えるキーコムの測定システム＆レーダー製品

TE 空洞共振器 比誘電率/誘電正接　測定システム　[DPS19]

従来の「スリット構造のスプリットシリンダ共振器」が抱える問題を解決し、測定値の正確性を大きく向上させました。
試料サイズが小さく、また厚みが薄くできないセラミックス系試料等の測定に適しています。
本製品を含め、測定ニーズを踏まえて最適な測定システムをご提案いたします。お気軽にご相談下さい。

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バンパー評価システム [BES01]

・バンパーなどの大型の被測定物の透過減衰量, ビームチルト角を測定する装置です。
・４つの電波受信部を使用することで、被測定物の透過減衰量, ビームチルト角の測定ができます。
・被測定物は装置長手方向(X方向), 装置短手方向(Y方向), 高さ方向(Z方向) 位置の調整が可能です。
  また、高さ方向(Z方向)を軸とした回転が可能です。
・これにより任意の位置の透過減衰量, ビームチルト角の測定が可能となっています。
・また、ロボットアームを使用し、バンパー全部分における任意の正確な場所を測定することが出来ます。

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ライダーテストシステム(Lidar Test System)---ムービングターゲット [LTS03]

キーコムのLTS(LiDAR Test System)シリーズに、ムービングターゲットタイプが登場。
相対距離(5m～300ｍ)を変化させながら、より実戦的な試験を行うことができます。

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ソナーテストシステム [USSTS01]

・反射物までの距離を模擬することができ、超音波ソナーセンサーの開発や検査に役立ちます。
・ドライビングシミュレータと連携することにより、車輛走行時のシナリオにあわせて周囲の状況（例：駐車場での車庫入れ時に他の車が進入等）を模擬できます。

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電気化学インピーダンス測定サービス/周波数1mHz～200kHz [SECI]

試料に微弱な交流信号を印加して、インピーダンスを測定し、電極・溶媒の電気的特性を評価する新サービスです。
交流信号の周波数を変化させることによって電気化学的解析が可能となり、電極構造、電極反応などのプロセスを細かく調べることができます。
燃料電池等の特性評価、腐食のモニタリング、コンクリートの劣化等に対応できます。まずはお気軽にご相談下さい。

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展示会・雑誌掲載等のお知らせ

マイクロウェーブ展 2025

MWE2025に出展を予定しています。
    会期：2025年11月26日（水）～28日（金）
    場所：パシフィコ横浜
    キーコムブース：K-02

月刊EMCへの連載記事

月刊EMC（科学技術出版社）に 2025年7月号に以下の解説が掲載されました。

なお、月刊EMCへの掲載済みの解説は以下の通りです。
  • 2022年2月~6月の3回にわたり、以下の解説が掲載されました。
    2月号：　デジタル機器に用いるケーブルおよびコネクタのシールド効果測定法
    5月号：　デジタル機器に用いるデータ伝送ケーブルおよびコネクタのノイズ対策
    6月号：　デジタル機器に用いるモニタ（ディスプレイ）ケーブルおよびコネクタのノイズ対策
    ※　関連製品：　ケーブル用シールド効果測定装置・システム　Model No. SEM03
    自動車に用いる材料のシールド試験、電波吸収試験および自動車のEMC試験[No.386]
    EMC試験前段階で必要とされる自動運転車の室内フュージョン試験方法[No.396]
    ADAS（Advanced Driver-Assistance Systems）のEMC[No.397]
    スマートネットのOTA（Over-The-Air）によるEMC試験[No.398]

充実した材料測定・分析サービス
キーコムは、10μHz~300GHz(VHF/UHF/マイクロ波/ミリ波)分野の製品に高い技術を有し、これを活かした測定装置/システムを開発するだけでなく、25年以上の長きにわたって測定サービスをご提供する中で、多種多様な材料の測定技術を磨き上げてきました。

また、オリジナルの測定装置のほか、110GHzのベクトルネットワークアナライザ、110GHzのスカラーネットワークアナライザ、80GHzのスペクトルアナライザ、70GHzのオシロスコープをはじめ、様々な測定装置を所有しています。

このため、固体・シート・フィルム・粉体・液体・多層構造体などのほとんどの材料の測定ニーズをしっかりカバーできます。
  • 数回の測定しか行わない/正確な測定値が欲しい/急いでいる/機器を所有したくない/ などのご事情がある場合
  • このような材料を果たして測定できるのか（素材、薄さ、サイズの問題等）といったお悩みがある場合
 など、お気軽にご相談ください。

日本・世界が認めるキーコムの技術

国際フェライト会議における受賞　(２０１３年４月)

The 11th International Conference on Ferrites 第11回国際フェライト会議（略称：ICF11）において、
"High Frequency Magnetic Measurement System from 100kHz to 10GHz"
(磁性体特性/磁性材料特性（透磁率も含む）測定システム)
が、ICF11 New Product &Novel Technology Award を受賞いたしました。
【規格】
・IEC　60556 Ad2・2(2016)
・IEC/TR 63307 Ed.1.0:2020(en)

国立研究開発法人 宇宙航空研究開発機構（JAXA）より感謝状の授与（２０１６年１０月）

国立研究開発法人 宇宙航空研究開発機構（JAXA）における、「宇宙太陽光発電システムの実現に向けた上下方向レーザ伝送実験」に参画し、世界初となる伝送距離約200メートルのレーザー伝送実験の成功に尽力しました。
その功績を踏まえ、宇宙航空研究開発機構様より感謝状を拝受いたしました。
本実験につきましては、以下宇宙航空研究開発機構ホームページに掲載されておりますのでご覧ください。

IEC・JISの規格化委員に選出 / キーコムの技術が日本・世界のルールに

キーコムは、
  • 誘電率測定
  • 電波吸収率測定
に関する実績が認められ、誘電率測定装置等に関するIEC（国際電気標準会議）・JICの規格化委員に選出されました。
また、キーコムの技術が、次のように日本・世界の規格になっています。
  1. キーコムのミリ波帯における誘電特性測定方法が、JIS規格(JIS R 1660-2)になりました。
  2. キーコムの電波吸収体の反射減衰量測定方法が、IEC規格 (IEC62431)およびJIS規格(JIS R 1679)になりました。