磁性体特性/磁性材料特性（透磁率も含む）測定システム

受賞

2013.4
The 11th International Conference on Ferrites 第11回国際フェライト会議　（略称　ICF11）　におきまして、当製品　"High Frequency Magnetic Measurement System from 100kHz to 10GHz" が ICF11 New Product &Novel Technology Award を受賞いたしました。

規格

IEC　60556 Ad2・2(2016)
IEC/TR 63307 Ed.1.0:2020(en)

論文

• 川合哲郎他 "周波数掃引強磁性共鳴によるFe基単結晶薄膜のGilbertダンピング定数の評価", MAG-18-75, LD-18-48
• 武田茂他 "多結晶ガーネットにおける強磁性共鳴半値幅ΔHの周波数特性", MAG-17-084
• S.Takeda, T.Hotch, S.Motomura, and H.Suzuki. "Theoretical Consideration on Short-& Open-circuited Transmission Lines for Permeability & Permittivity Measurement" Journal of the Magnetics Society of Japan Vol.39, No.3 2015
• S.Takeda, T.Hotch, S.Motomura, and H.Suzuki, "Permeability Measurements of Magnetic Thin Films using Shielded Short-Circuited Microstrip Lines" J.Magn.Soc.Jpn., 39, 227-231(2015)
• S. Takeda, S. Motomura, T. Hotchi, and H. Suzuki, "Permeability Measurement System up to 10GHz using All Shielded Shorted Microstrip Line", Journal of the Japan Society of Powder and Powder Metallurgy, vol.61, (2014), No. S1, ppS303-S307
• S. Takeda and H. suzuki, "Wideband Measurement System of ΔHω using All Sheielded Shorted Microstrip Line", J. Magn. Soc. Jpn., 33, 171-174, (2009)

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仕様

項目	内容
使用測定器	ネットワークアナライザ
測定内容	μr' - jμr", 半値幅ΔH, 強磁性共鳴緩和係数 α
測定周波数	透磁率 : 100kHz-30GHz(20~30GHzは測定サービスにて対応） 半値幅ΔH, 強磁性共鳴緩和係数 α : 100MHz-10GHz
精度	使用するネットワークアナライザの精度に依存 例）D-jig精度±5% ※最適厚みの場合 Accuracy( 繰り返し精度):　 ±1% もしくは ±0.01 (ネットワークアナライザの精度に依存する）
試料形状	下記に記載
温度範囲	通常仕様：常温

測定画面例

PER21およびPER01データ

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製品番号および部品番号

製品番号

PER01 (基本セットとして、次が含まれます。）

部品番号	内容	詳細	測定周波数	試料の大きさ
BS-01A	固定台	共通固定台
M-5000F	ゼロ補正用磁界装置	5000 Oe 固定
TRO-001D	測定治具（透磁率）	トロイダルサンプル用治具	100kHz-10GHz	外径 6.93~ 6.96mm 内径 3.06~ 3.10mm 厚み：試料により異なる 厚み例）0.1mm~ 0.3mm(10MHz-100MHzで透磁率20～30の場合)
CM06A-SMA(m)SMA(m)-1000	ケーブルアセンブリ	18GHz同軸ケーブルアセンブリ 1m
GP-01	GPIBインターフェース	USBタイプGPIBカード
SS	システムセットアップ導入および使用方法説明

部品番号（オプション）

透磁率測定用

部品番号	内容	詳細	測定周波数	試料の大きさ	試料厚
M-3000F	ゼロ補正用磁界装置	3000 Oe 固定
ST-001A	測定治具（透磁率）	矩形サンプル用治具 (M-3000Fが必要)	100kHz~100MHz	10 x 30mm	最大0.34mm (試料による） ※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-002B	測定治具（透磁率）	矩形サンプル用治具 (M-3000Fが必要)	10MHz~1GHz	10 x 30mm	最大0.34mm (試料による） ※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-003C	測定治具（透磁率）	矩形サンプル用治具 (M-5000Fが必要)	最適周波数1GHz~10GHz 測定可能周波数100MHz-10GHz	5 x 16mm	最大0.34mm (試料による） ※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-004D	測定治具（透磁率）	矩形サンプル用治具 (M-5000Fが必要)	最適周波数10GHz~20GHz 測定可能周波数1GHz~20GHz	2 x 6mm	最大0.2mm (試料による） ※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
ST-005E2	測定治具（透磁率）	薄膜サンプル用治具 (M-5000Fが必要)	1GHz-20GHz	2 x 6mm	最大0.2mm (試料による） ※厚い場合は低周波側が精度よく、薄い場合は高周波側が精度よく測定出来ます
DMP-PER01-01A	測定用ソフトウェア	複素透磁率 μr' - jμ"r 測定用(反磁界補正付き)
DMP-PER01-03A	測定用ソフトウェア	複素透磁率 μr' - jμ"r 測定用薄膜オプション付き			目安（試料による） μ=10程度の場合 80 nmで1GHz程度、1umで30GHz程度
VNA	ネットワークアナライザ	お持ちでない場合
CP	Windows PC

※磁性は形状効果がございますが、形状効果の測定も可能です。

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半値幅 ΔH、強磁性共鳴緩和係数 α 測定用

部品番号	内容	詳細	測定周波数	試料の大きさ	試料厚
M-130A	静磁界印加装置	100~130 Oe　±10%
M-690A	静磁界印加装置	560~690 Oe　±10%
M-1400A	静磁界印加装置	1200~1400 Oe　±10%
M-2000A	静磁界印加装置	1700~2000 Oe　±10%
M-2500A	静磁界印加装置	2100~2500 Oe　±10%
M-4500A	静磁界印加装置	3600~4500 Oe　±10%
SQ-001A	測定治具（半値幅 ΔH）	半値幅 ΔH　用治具	100MHz~10GHz	5 x 5mm	最大0.25mm (試料による）
DMP-PER01-02A	測定用ソフトウェア	半値幅 ΔH、強磁性共鳴緩和係数 α 測定用

*この他に試料に適した電磁石が必要な場合があります。

構成

測定例

複素透磁率μ' -jμ" NSSトロイダル 7mmΦ x 3mmΦ

複素透磁率μ' -jμ" NSS矩形 5mm x 16mm

複素透磁率μ' -jμ" NSSトロイダルと反磁界補正後の矩形サンプルとの結果比較

Customers (Area or Country, sales)

Tohoku University(Japan, -), Research Institute for Electromagnetic Materials / Denjiken(Japan, -), N(Japan, US$750 billion), A(Japan, US$6 billion), R(Japan, US$85 billion),, M(Japan, US$1 trillion), F(Japan, US$2 trillion)
Xi'an Jiaotong University(China, -), S(Asia, US$30 billion) , I(US, US$6 trillion) etc.