300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

透過減衰量測定システム
ビームチルト測定システム（Insertion Loss, Tilt）
（製造ライン用にインライン化可能）

Model No. RTS
Feature
レーダ波がレドームやカバーを透過するときの周波数ごとの減衰量を簡単に測定できます。
エンブレムや樹脂フィルム等の製造ライン用にインライン化が可能です。PLC対応等ご希望の場合にはお問い合わせください。

1.  シミュレーションソフトウェア

  1.1.  エンブレム、レドーム設計用多層板透過減衰量シミュレーションソフトウェア [SFW05]
 

エンブレムなどの設計に最適な透過減衰量や反射減衰量のシミュレーションソフトウェアです。
使用予定材料の誘電率や透磁率をマウスを用いて設定すると、試料厚さと透過減衰量及び反射減衰量の関係をリアルタイムでグラフ化します。
グラフは、横軸にエンブレムの厚さ、縦軸に減衰量を表示します。
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2.  遠方界用透過減衰量測定装置（電波暗室不要）

  2.2.  ミリ波・マイクロ波透過減衰量測定システム　(レーダ用レドーム、カバー測定等に最適） [RTS01]
 

レーダー波がレドームやカバーを透過するときの周波数と透過減衰量の関係を簡単に測定できます。
そのため、周波数を変化させることにより、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が得られます。
また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。
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  2.2.  周波数変化法フリースペースタイプ 比誘電率, 誘電正接, 透過減衰量, 電波吸収率
ミリ波・マイクロ波　測定装置・システム ( εr', tanδ/Dk, Df) [DPS10]
 

自由空間で測定可能な、電波暗室が不要な誘電率/誘電正接測定システムです。
切断できない試料や厚い材料の測定に向いています。
従来からの一般的なフリースペース計算手法　Sパラメータ法[DPS24]　では精度が出ないために新規開発した手法です。
Sパラメータ法と比較し、0校正し、測定するだけの簡単さ、PTFEでも測定できる正確さが特長です。
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3.  レドーム、エンブレム、レーダーカバー評価 (透過減衰量およびチルト測定装置)（電波暗室不要）

  3.1.  レーダーアライメントシステム(RAS)
(レドーム/エンブレム測定システム) [EES01A]		   3.2.  自動車用エンブレム・レドーム評価システム（研究開発向け） [EES12-01]
 

①自動車バンパー付近のレーダーのアライメント調整
②レーダカバーの特性試験(挿入損失とビームチルト)

  

①レーダービームに対するエンブレムの影響（透過減衰量）を往復で測定します。
②試料の平面上の各点、前後・左右に首を振らせた各点の透過減衰量・チルト角の測定。
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  3.3.  自動車用エンブレム透過歪み可視システム - EBEV-01 [RCS10]
 

エンブレムの後ろに衝突防止レーダーを配置する場合、エンブレムの透過減衰量とチルト角度（曲がり角度）を小さくする必要があります。
それをイメージングレーダーを用いて可視化するシステムです。
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