300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

キーコム特性評価測定分析受託サービスセンター

Model No. JJS
豊富な測定経験、正確な測定値。
技術者が行う電気、電波に特化した測定分析受託。電気、電波のことならキーコムへ。

キーコムは、様々な測定装置を所有しています。また、キーコムは10μHz~300GHz(VHF/UHF/マイクロ波/ミリ波)分野製品に高い技術を有するだけでなく、測定技術自体にも高い技術を有しています。

数回の測定しか行わない。正確な測定値が欲しい。急いでいる。機器を所有したくない。 などの時にご利用ください。

110GHzのベクトルネットワークアナライザ、110GHzのスカラーネットワークアナライザ、80GHzのスペクトルアナライザ、70GHzのオシロスコープをはじめ、様々な測定装置を所有しています。

測定サービス一覧

測定・評価・解析

A. 電気材料特性/電磁波特性/電気特性 評価・測定 B.  アンテナ および レーダー C.回路評価、基板解析、製品/不良/故障解析
1. 誘電率 (比誘電率・複素誘電率) ・誘電正接 1. アンテナ放射特性(パターンプロファイル)、利得(ゲイン)、軸比測定 1. 基板解析
2. 電波制御素材(電波吸収体、無反射素材、ステルス塗料)の反射/吸収特性 / 電波吸収率 (遠方界/近傍界・ノイズ抑制シート) 2. ミリ波レーダーの評価測定 2. 導波管、同軸、プローブコンタクトなど、端子条件の混在した回路評価
3. 磁性体 (透磁率等) 測定サービス 3. エンブレム、バンパーなどによる透過減衰量とビームシフトの測定 3. 低周波(直流)から中、高速電子回路一般のプローブ評価、故障解析
4. 透過減衰量測定サービス 4. RCSのシミュレーション  
5. シールド効果測定サービス 5. 対象物のRCSとイメージデータの取得(出張可)  
6. ESR測定  
7. 伝送特性測定    
8. マイグレーション    
9. 導電率/電気伝導率/体積固有抵抗/絶縁耐厚 測定    
10. 伝送/反射特性測定(インピーダンス評価、Q値評価)    
11. 負荷時Q値(QL)測定、素材Q値(Q0)推定    
12. 導電率測定、表面抵抗測定、 四探針法による抵抗率測定    
13. 集中定数推定(L/C/R測定)、フィッティング    
14. ミリ波帯でのコンタクトプロービング    
15.    
   

各種シミュレーション等

D. 各種シミュレーション F. コンサルティング他
1.電波吸収率(単層/多層)
1. 無線局免許手続き(開設・変更・再免許)代行
2.透過減衰量・反射減衰量(最大4層)
・自動車用エンブレム
・各種レーダーカバー
   
 3.アンテナ    
 4.伝送線路    
 5.フィルタ    
     
     
     
     

 

キーコムの測定サービス

# 豊富な測定サービスによる経験を活用し、的確な測定方法・装置をご提案、正確な値を速やかに測定することが可能です。
→通常納期:1週間 (お急ぎの場合は要相談)
→期末期等混み合う時期:2週間程度 (お急ぎの場合は要相談) 
→お時間を必要とする測定:2~3週間 (お急ぎの場合は要相談)
# 技術的に困難なご要求や現時点で取り扱っていない測定でも、理論的に可能であれば、様々な測定装置開発経験より、測定を可能にするよう努めております。是非ご相談下さい。(通常よりお時間を頂きます。3週間~)
例)2005年11月に開発した測定方法→低周波における極薄膜(0.01μm)の誘電率・誘電正接測定
# 弊社社長はIEC(International Electrotechnical Commission / 国際電気標準会議)規格原案作成の委員です。
# 弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がJIS規格化されました。
*JIS化委員に選出されています。
・誘電率測定
・電波吸収率測定
# 弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がJIS規格化されました。
・ファインセラミックのミリ波帯における誘電特性測定方法
第2部:開放形共振器方法―JIS R 1660-2:2004―
・Noise Suppression Sheet for digital devices and equipment 
Part2:Definitions and general Properties―IEC62333-1:2006-05―
Part3:Measuring method―IEC62333-2:2006-05―
・電波吸収体のミリ波帯における電波吸収特性測定方法―JIS R 1679:2007―
・Measurement Methods for Reflectivity of Electromagnetic Wave Absorbers in Millimeter Wave Frequency
―IEC62431
   

ご依頼方法

 こちらのページをご覧ください。→受託試験の進め方