測定可能範囲
基本的なものを記載しています。ご希望のサンプルについてはお問い合わせください。
方式 | 周波数帯 | サンプルの大きさ | |
---|---|---|---|
遠方界 | フリースペース反射法 ・垂直入射 ・斜入射 |
(1GHz)2.6GHz-26.5GHz |
450mm×450mm程度 (最小300mm×300mm) |
26.5-110GHz |
250mm×250mm程度 | ||
近傍界 | 近傍界用 | 0.1GHz-3GHz | 100mm×50mm以上 |
3GHz-18GHz | |||
18GHz-40GHz |
キーコムの電波吸収率(電波吸収材料・ノイズサプレションシート・ノイズ抑制シート)
測定サービス[近傍界・遠方界]
◆ | 豊富な測定サービスによる経験を活用し、的確な測定方法・装置をご提案、正確な値を速やかに測定することが可能です。 →通常納期:1週間 (お急ぎの場合は要相談) →期末期等混み合う時期:2週間程度 (お急ぎの場合は要相談) →お時間を必要とする測定:2~3週間 (お急ぎの場合は要相談) |
◆ | 技術的に困難なご要求や現時点で取り扱っていない測定でも、理論的に可能であれば、様々な測定装置開発経験より、測定を可能にするよう努めております。是非ご相談下さい。(通常よりお時間を頂きます。3週間~) 例)2005年11月に開発した測定方法→低周波における極薄膜(0.01μm)の誘電率・誘電正接測定 |
◆ | 弊社社長はIEC(International Electrotechnical Commission / 国際電気標準会議)規格原案作成の委員です。 |
◆ | 弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がJIS規格化されました。 *JIS化委員に選出されています。 ・誘電率測定 ・電波吸収率測定 |
◆ | 弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がJIS規格化されました。 *JIS化委員に選出されています。 ・誘電率測定 ・電波吸収率測定 |
◆ | 電波吸収率測定装置につきましては、2007年にIEC規格化されることが決定しています。 |
弊社はIEC化およびJIS化委員に選出されています
・ファインセラミックのミリ波帯における誘電特性測定方法
第2部:開放形共振器方法―JIS R 1660-2:2004―
・Noise Suppression Sheet for digital devices and equipment
Part2:Definitions and general Properties―IEC62333-1:2006-05―
Part2:Measuring method―IEC62333-2:2006-05―
・電波吸収体のミリ波帯における電波吸収特性測定方法―JIS R 1679:2007―
・Measurement Methods for Reflectivity of Electromagnetic Wave Absorbers in Millimeter Wave Frequency
―IEC62431/Ed(2008)
・このほか、マイクロストリップラインを用いたシミュレーション方式の誘電率、tanδ測定法を2006年度 European Microwave conference で発表しています。
EuMc21-4, 2006, Manchester, UK
お問い合せ先
E-mail:info@keycom.co.jp FAX: 03-5950-3380 (お急ぎの場合には TEL 03-5950-3101)
下記情報をご記載の上(不明な部分は記載不要です)、お気軽にお問い合せください。
ご必要な場合には、下記 受託試験見積依頼書 をお使いください。折り返し営業担当もしくは技術担当よりご連絡差し上げます。
- ご連絡先
- 測定希望周波数
- サンプル形状(ご用意可能な最大の大きさ:厚みx縦x横、量をご記載ください。大体でもかまいません)
- サンプル物質についての情報
- サンプルを扱うにあたっての注意点(導電性、揮発性等)
- 測定希望温度(常温、その他)
- サンプルを弊社でご用意することをご希望される場合には、詳細な情報をご記載ください (例)48%アルコール溶液
- サンプルのご返却希望の有無
受託試験見積依頼書(MS-Word)
受託試験見積依頼書(PDF)
ダウンロード後、印刷、または保存されると記入が可能となります。必要事項をご記入の上、FAXもしくはメールに添付してご送付ください。