300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

比誘電率・誘電正接・比透磁率 測定システム

Model No. DPS
25年以上の経験、高いリピーター率、多数の納入実績 
1. 誘電率・透磁率に関する豊富な測定経験と専門知識

25年以上の測定サービス実施経験や、IEC(国際電気標準会議)、JISに委員として参画し、先進的な測定方法について提案・規格化してきた知見を踏まえ、最適な測定装置を的確にご提案できます。
固体・シート・フィルム・粉体・液体・多層構造体などのほとんどの材料の測定ニーズをカバーできます。

2. 高精度かつ実用的な測定装置
豊富な経験・知見を踏まえ、ニーズにお応えする高性能な測定装置を提案いたします。
スペックの一例は次のとおりです(詳細はご相談下さい)。

・±1%の高精度 
・非破壊 
・0.1μm極薄膜対応 
固体・シート・フィルム・粉体・液体(オイル等を含む)・多層構造体等の測定が可能
・測定可能範囲 10μHz-140GHz(複数機器使用)
3. 柔軟かつ迅速なカスタマイズ・コンサルティング
弊社の測定装置は国内で製作しております。したがって、カスタマイズのご要望や技術的な相談などに対し、柔軟かつ速やかにお答えすることが可能です。
また、フレキシブル基板用、半導体用、薄膜用、マイクロ波・ミリ波基板用、マイクロ波・ミリ波共振器用、および液体用など、目的に応じた装置の開発が可能です。
4. サポート体制
ご購入後、困ったことがございましたらお気軽にお電話ください。
我々のわかる範囲ではございますが、創業28年の知見に基づきアドバイスさせていただいております。

キーコムの技術者は電気系のみならず化学系を揃えており、
解析など化学系のお客様、電気系のお客様の双方のご要望にお応えできる体制を心掛けております。
お気軽にお問い合わせください。


測定方法各種

代表的な場合についてのみ、記載しております。下記以外のものについてはお問い合わせください。
Ο : 最適
∆ : 測定可能
    多層構造体 プリント基板 フィルム(極薄膜) 粉体 シート(板) ファントム 電波吸収材料 ノイズ抑制シート コンクリート
アスファルト
果物
野菜
液体 レドーム
カバー
セラミックス 強誘電体  
1 .開放型共振器 20GHz~330GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο   共振法シリーズ
低損失材料に適
高精度
ポイント周波数
位相測定はいらない
2. TM空洞共振器 200MHz~10GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο Ο   Ο
3. TE空洞共振器 10GHz~40GHz   Ο      Ο   Ο    
4. ストリップライン共振器 800MHz~14GHz Ο Ο Ο
5. マイクロストリップライン共振器 800MHz~14GHz Ο Ο Ο
6. 円板共振器 3GHz~70GHz Ο Ο Ο
7. LC共振器 10MHz, 50MHz, 100MHz Ο Ο Ο      
8. 平行導体板型誘電体共振器 3GHz~26.5GHz  
9. フリースペース周波数変化法
2.6GHz~110GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο           周波数変化法シリーズ
低損失材料に適
厚みのある試料に適
10. 閉鎖系周波数変化法(同軸管、導波管) 10MHz~60GHz Ο Ο   Ο Ο Ο          
11. プローブ方式 (オープン)Sパラメータ法 30MHz~90GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο Sパラメータ法シリーズ
高損失材料に適
精度は低いが、幅広い周波数特性を測定できる
12.13.14. は透磁率も同時に測定可能
12.  プローブ方式 (ショート)Sパラメータ法 100kHz~10GHz Ο Ο
13. 閉鎖系Sパラメータ法(同軸管、導波管
μrも同時に測定可能
12MHz~40GHz Ο Ο Ο Ο
14. フリースペースSパラメータ法
μrも同時に測定可能
2.6GHz~110GHz   Ο               Ο
15. フリースペース入射角変化方式Sパラメータ法
μrも同時に測定可能
2.6GHz~110GHz Ο Ο Ο Ο Ο
16. 伝搬遅延同軸管方式Sパラメータ法
45MHz~40GHz Ο Ο Ο Ο Ο Ο Ο
17. 低周波用開放同軸反射法 1MHz-1GHz Ο Ο        
18. 静電容量方式 1Hz~1GHz Ο Ο Ο 静電容量法シリーズ
低周波帯が測定可能
高精度
幅広い周波数特性を測定できる
19. MOSFET構造半導体空乏層
およびゲート電極直下誘電体膜
20Hz~2MHz             Ο
20. エリプソメトリー法
μrも同時に測定可能
26.5~110GHz Ο Ο Ο エリプソメトリー法シリーズ

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