測定方法各種
代表的な場合についてのみ、記載しております。下記以外のものについてはお問い合わせください。
Ο : 最適
∆ : 測定可能
多層構造体 | プリント基板 | フィルム(極薄膜) | 粉体 | シート(板) | ファントム | 電波吸収材料 | ノイズ抑制シート | 土 | コンクリート アスファルト |
果物 野菜 |
液体 | レドーム カバー |
セラミックス | 強誘電体 | |||
1 .開放型共振器 | 20GHz~330GHz | ∆ | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | 共振法シリーズ 低損失材料に適 高精度 ポイント周波数 位相測定はいらない |
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2. TM空洞共振器 | 200MHz~10GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | ||||||||
3. TE空洞共振器 | 10GHz~40GHz | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
4. ストリップライン共振器 | 800MHz~14GHz | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
5. マイクロストリップライン共振器 | 800MHz~14GHz | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
6. 円板共振器 | 3GHz~70GHz | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
7. LC共振器 | 10MHz, 50MHz, 100MHz | Ο | Ο | Ο | |||||||||||||
8. 平行導体板型誘電体共振器 | 3GHz~26.5GHz | ∆ | |||||||||||||||
9. フリースペース周波数変化法 |
2.6GHz~110GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | 周波数変化法シリーズ 低損失材料に適 厚みのある試料に適 |
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10. 閉鎖系周波数変化法(同軸管、導波管) | 10MHz~60GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | |||||||||||
11. プローブ方式 (オープン)Sパラメータ法 | 30MHz~90GHz | Ο | Ο | Ο | ∆ | ∆ | Ο | Ο | Ο | ∆ | Sパラメータ法シリーズ 高損失材料に適 精度は低いが、幅広い周波数特性を測定できる 12.13.14. は透磁率も同時に測定可能 |
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12. プローブ方式 (ショート)Sパラメータ法 | 100kHz~10GHz | Ο | Ο | ∆ | ∆ | ∆ | ∆ | ∆ | |||||||||
13. 閉鎖系Sパラメータ法(同軸管、導波管 μrも同時に測定可能 |
12MHz~40GHz | ∆ | Ο | Ο | Ο | Ο | ∆ | ||||||||||
14. フリースペースSパラメータ法 μrも同時に測定可能 |
2.6GHz~110GHz | Ο | Ο | ||||||||||||||
15. フリースペース入射角変化方式Sパラメータ法 μrも同時に測定可能 |
2.6GHz~110GHz | Ο | Ο | Ο | Ο | Ο | |||||||||||
16. 伝搬遅延同軸管方式Sパラメータ法 |
45MHz~40GHz | Ο | ∆ | Ο | Ο | Ο | Ο | ∆ | Ο | Ο | |||||||
17. 低周波用開放同軸反射法 | 1MHz-1GHz | Ο | Ο | ||||||||||||||
18. 静電容量方式 | 1Hz~1GHz | Ο | ∆ | Ο | Ο | 静電容量法シリーズ 低周波帯が測定可能 高精度 幅広い周波数特性を測定できる |
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19. MOSFET構造半導体空乏層 およびゲート電極直下誘電体膜 |
20Hz~2MHz | Ο | |||||||||||||||
20. エリプソメトリー法 μrも同時に測定可能 |
26.5~110GHz | Ο | Ο | Ο | ∆ | エリプソメトリー法シリーズ |