300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

伝搬遅延方式 Cut Backタイプ
同軸管法
比誘電率/誘電正接(εr'/tanδ)測定装置・システム

Model No. DPS05

周波数が45MHzから40GHzにおいてεr'が概ね1.05から500の液体のεr'およびtanδを計測する測定装置・システムです。
バイアスを印加することにより、液晶などのεr'とtanδの電圧依存性も評価できます。

伝送路を用いたCut Back法からなり、以下に示す特長があります。

本測定法は電子情報通信学会論文誌C Vol.J85-C No.12 PP.1149-1158 2002年12月で論文として採択されました。
なお、この他にストリップライン測定キット、コプレナーライン測定キットなどもあります。

特長

論文

亀井利久、内海要三、森武洋、戸田耕司、鈴木洋介 " 10kHz~40GHzにおけるネマティック液晶の誘電測定と可変遅延線路への応用 "
電子情報通信学会論文誌C Vol.J85-C No.12 PP.1149-1158 2002年12月
"Measurements of dielectric properties of nematic liquid cristals at 10kHz to 40GHz and application to a variable delay line"
Electronics and Communications in JAPAN, Part2, Vol. 86, No.8, 2003 Wiley Periodicals, Inc.

仕様

測定周波数 45M~40GHz
εr' 1.05-500   精度±5%
tanδ 0.001-5   精度±10%

構成

 

データ例


オーダー情報 - 部品番号(もしくはご要望) をお知らせください

CBC-03 Cut Back用計測キット(1セット)
CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-1000 コネクタ付 40GHz用同軸ケーブル 1m (2本)
DMP-14 Cut Back用プログラム(1セット)
GP-01 GPIBケーブル
VNA ネットワークアナライザ 併せてご購入いただけます。
Windows PC Windows PC (プリンタ付) 併せてご購入いただけます。