A. 低周波帯比透磁率測定
A-1. PER21
低周波用比透磁率測定システム(1kHz-1MHz)
![]() 測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。 |
A-2. PER01
磁性体特性/磁性材料特性(透磁率も含む)測定システム (100kHzから30GHzまで広範囲に測定可能)
![]() 円板もしくは正方形板試料を短絡マイクロストリップラインにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。 なお、 100kHz から 30 GHz まで測定が可能です。 本測定法については、次に示す Conference で発表しました。 Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline " 測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。 |
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B. 高周波帯比透磁率測定
B-1. PER01
磁性体特性/磁性材料特性(透磁率も含む)測定システム (100kHzから30GHzまで広範囲に測定可能)
![]() 円板もしくは正方形板試料を短絡マイクロストリップラインにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。 なお、 100kHz から 30 GHz まで測定が可能です。 本測定法については、次に示す Conference で発表しました。 Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline " 測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。 |
B-2. DPS08
Sパラメータ方式 反射法および透過法 同軸管、導波管タイプ、比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'')測定装置・システム
![]() なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。 |
B-3. DPS24
Sパラメータ法フリースペースタイプ 比誘電率, 誘電正接, 透磁率, 透過減衰量, 電波吸収率 ミリ波・マイクロ波 測定装置・システム
なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で計測できます。 計測は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS21およびS11を観測することにより行います。 |
C. EPR / ESR
C-1. ESR05
試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム
・標準型XバンドESRシステム以上の測定感度を持っています。 ・試料を精密に2軸回転及び微少傾斜できます。 ・静磁場を零磁場から高磁場まで変化できます。 |