300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

磁性体特性/磁性材料特性(透磁率も含む)測定システム

Model No. PER
Feature
キーコムは、ESR(電子スピン共鳴)測定、Sパラメータ法による透磁率の測定など、磁性体測定に関する各種の測定システムを開発しています。

A. 低周波帯比透磁率測定

A-1. PER21
低周波用比透磁率測定システム(1kHz-1MHz)

ノイズが少ない低周波帯1kHz-1MHzの比透磁率測定システムです。
測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。

A-2. PER01
磁性体特性/磁性材料特性(透磁率も含む)測定システム (100kHzから30GHzまで広範囲に測定可能)

磁性材料の複素透磁率 μr' - jμ"r 、強磁性共鳴緩和係数 α 、半値幅 ΔH 、飽和磁化 4πMs を広帯域で測定するシステムです。
円板もしくは正方形板試料を短絡マイクロストリップラインにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。
なお、 100kHz から 30 GHz まで測定が可能です。
本測定法については、次に示す Conference で発表しました。
Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline "
測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。
 

B. 高周波帯比透磁率測定

B-1. PER01
磁性体特性/磁性材料特性(透磁率も含む)測定システム (100kHzから30GHzまで広範囲に測定可能)

磁性材料の複素透磁率 μr' - jμ"r 、強磁性共鳴緩和係数 α 、半値幅 ΔH 、飽和磁化 4πMs を広帯域で測定するシステムです。
円板もしくは正方形板試料を短絡マイクロストリップラインにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。
なお、 100kHz から 30 GHz まで測定が可能です。
本測定法については、次に示す Conference で発表しました。
Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline "
測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。

B-2. DPS08
Sパラメータ方式 反射法および透過法 同軸管、導波管タイプ、比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'')測定装置・システム

本測定装置は、反射法および透過法の2つの測定法で測定できるようになっており、目的に応じて使い分けが出来ます。また、双方とも複素εrと複素μrが同時に測定できますが、各測定法の使い分けを次に示します。
なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。

B-3.
Sパラメータ法フリースペースタイプ 比誘電率, 誘電正接, 透磁率, 透過減衰量, 電波吸収率 ミリ波・マイクロ波 測定装置・システム DPS24

同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。
なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で計測できます。
計測は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS21およびS11を観測することにより行います。

試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム

試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム
esr05002061101-07
スピントロニクスなどの研究に最適です。
・標準型XバンドESRシステム以上の測定感度を持っています。
・試料を精密に2軸回転及び微少傾斜できます。
・静磁場を零磁場から高磁場まで変化できます。