磁性体特性/磁性材料特性（透磁率も含む）測定システム
| 磁性体特性/磁性材料特性（透磁率も含む）測定システム (100kHzから30GHzまで広範囲に測定可能) |
| per01002050701-01 |
 磁性材料の複素透磁率 μr' - jμ"r 、強磁性共鳴緩和係数 α 、半値幅 ΔH 、飽和磁化 4πMs を広帯域で測定するシステムです。円板もしくは正方形板試料を短絡マイクロストリップラインにセットし、ベクトルネットワークアナライザを用いて周波数掃引するというシンプルな操作により高精度の測定ができます。 なお、 100kHz から 30 GHz まで測定が可能です。 本測定法については、次に示す Conference で発表しました。 Inter mag 2008, 4-8 May Madrid, Shigeru Takeda,Hirosuke Suzuki " Measurement System of FMR Line width ΔHw using Shorted Stripline " 測定(分析受託試験)サービス(参照ページP.06)もご利用ください。 |
Sパラメータ方式
| Sパラメータ方式 反射法および透過法 同軸管、導波管タイプ、比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'')測定装置・システム |
| dps08002011118-07 |
| 本測定装置は、反射法および透過法の2つの測定法で測定できるようになっており、目的に応じて使い分けが出来ます。また、双方とも複素εrと複素μrが同時に測定できますが、各測定法の使い分けを次に示します。 なお、電波吸収材料の吸収率と反射率は複素εrと複素μrから計算により求めます。 |
| Sパラメータ方式 フリースペースタイプ 平板用透過法 比誘電率、比透磁率 (εr'/μr') 測定装置 |
| dps21002040614-08 |
| 同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、試料の場所により、特性ムラがあったり、凹凸がある場合に実用にあったデータが得られます。 なお、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながら、サンプルを平面波で計測できます。 計測は、テストフィクスチャにベクトルネットワークアナライザとコンピュータを接続し、SパラメータS21およびS11を観測することにより行います。 |
入射角変化方式
| 入射角変化法 比誘電率、誘電正接、比透磁率 (εr'/tanδ/ μr'/ μr'') 測定装置・システム |
| dps22002040516-08 |
| 反射減衰量および反射位相角の入射角依存性をTE波とTM波について測定します。 この測定値から逆推定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で計測できますので、高い測定精度を得られます。さらに、アンテナから出た電波は平行ビームのため、サンプルは小さくすることができます。 なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。 |
エリプソメトリー方式
| エリプソメトリー法 比誘電率、比透磁率 (εr'/ μr') 測定システム |
| dps02002051012-05 |
| スカラー測定であるため、高価なベクトルネットワークアナライザを必要としません。また、反射係数のTE波とTM波の振幅比と位相の差を測定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めることができます。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにかかわらず、サンプルを平面波で計測できます。また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。 なお、εrとμrが周波数ごとにわかります。 |
試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム
| 試料回転 傾斜型静磁場大可変ESR測定システム |
| esr05002061101-07 |
 スピントロニクスなどの研究に最適です。・標準型XバンドESRシステム以上の測定感度を持っています。 ・試料を精密に2軸回転及び微少傾斜できます。 ・静磁場を零磁場から高磁場まで変化できます。 |