300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

TE 空洞共振器
比誘電率/誘電正接 測定システム
(OP:真空試験、温度変化試験)
[シート, ミリ波, 高精度, Dk, Df, εr', tanδ, 誘電損失, 測定装置]

Model No. DPS19
シート状試料、セラミックス等の誘電率測定システム。真空試験、温度変化試験可能。
スプリットシリンダ共振器とも呼ばれ、共振器の間にシート状サンプルを挟み込み測定を行います。
今までのいわゆる「スリット構造のスプリットシリンダ共振器」では測定値が正確に出ないことが問題でした。
これを解決するために、キーコムでは試料挿入および AIR の共振 Q 値測定を容易に行えるよう、共振器のギャップを自在に制御する Cavity 上下動装置 ( 特許出願 ) をご用意しました。
試料サイズが小さく、また厚みが薄くできないセラミックス系試料等の測定に適しています。

対応規格

JIS R1641、IPC-TM650 2.5.5.13

電界方向

地面と平行に円状、試料面内(平面)方向に円状 ⇒ 異方性の確認はできない

※電気的に使用する材料に異方性があるかどうかは重要な開発事項であるため、
延伸方向や押出成形方向に異方性が出やすい樹脂 や 異方性のあるフィラーを充填した樹脂組成物など
を測定される場合には、上記をご考慮ください。

仕様

測定周波数 10GHz, 20GHz, 28GHz, 40GHz
※One frequency point per resonator(ex. 10GHz Resonator ⇒ Measurement at 10GHz)
測定範囲 比誘電率 (Dk): 1 ̃ 20
誘電正接 (Df): 0.05 ̃ 0.0001 ※ただし試料厚による
測定精度 比誘電率 (Dk): ± 1% ※ただし VNA の精度に依存する
誘電正接 (Df): ± 5% ※ただし VNA の精度に依存する
試料の大きさ 概ね 比誘電率 x 厚さが 5mm 以下のシート
10GHz ̃ 25GHz: 50mm x 50mm 程度
25GHz ̃ 40GHz: 40mm x 40mm(理想) ※30mm~40mm  x 30mm以上(最小サイズ)

オーダー情報 - 部品番号(もしくはご要望) をお知らせください

商品コード 部品番号 品名 仕様 
DPS19-MD01  COE-10 保持移動台/Cavity 上下動装置  
DPS19-CV10 TER-10 共振器キット 10GHz 近辺用
DPS19-CV15 TER-15 共振器キット 15GHz 近辺用
DPS19-CV20 TER-20 共振器キット 20GHz 近辺用
DPS19-CV28 TER-28 共振器キット 28GHz 近辺用
DPS19-CV40 TER-40 共振器キット 40GHz 近辺用
DPS19-CV10-H200 TER-10-H 共振器キット(温度変化用) 10GHz 近辺用
DPS19-CV15-H200 TER-15-H 共振器キット(温度変化用) 15GHz 近辺用
DPS19-CV20-H200 TER-20-H 共振器キット(温度変化用) 20GHz 近辺用
DPS19-CV28-H200 TER-28-H 共振器キット(温度変化用) 28GHz 近辺用
DPS19-CV40-H200 TER-40-H 共振器キット(温度変化用) 40GHz 近辺用
DPS19-PG01 DMP-35 TE モード空洞共振器用 測定プログラム  
DPS19-PG02 DMP-35-H TE モード空洞共振器用 測定プログラム(温度変化用)  
DPS19-OPPG01 DMP-X 恒温槽制御プログラム  
CB01  CM06 同軸ケーブルアセンブリ 周波数により、適切なケーブルを付属します(2本)
VNA VNA ネットワークアナライザ 併せてご購入いただけます
PC003 PC Windows PC 併せてご購入いただけます
GP001 GP-01 GPIB インターフェース  

測定画面例


温度変化試験例

LCPの温度依存性