300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

エンブレム、レドームおよびカバー等による
パターン歪み測定システム

Model No. ANM03
Feature

プローブアンテナの垂直方向と測定対象アンテナの回転移動を組み合わせ、円筒状にニアフィールド測定を行い、 測定結果をファーフィールドに変換します。

なお、エンブレムの裏面などのカバーに電波吸収シートを入れ、回り込み電波によるパターン劣化の改善効果を確認することなどにも適しています。

特長

構成

データ例

オーダー情報(Model No.および部品番号(もしくはご要望)をご連絡下さい)

部品番号 品名 仕様
CYLSCAN-001 円筒スキャナ
/コントローラ
・走査の方式:円筒走査
・走査範囲: 垂直方向 800mm/水平方向 360度回転
・位置精度: 垂直方向 0.1mm/水平方向 0.1度
・外径寸法:
  円筒スキャナ部 (幅)1050mm × (高さ)1400mm × (奥行)390mm
  コントローラ部 (幅)430mm × (高さ)220mm × (奥行)280mm
DMP-155090304 測定・解析ソフトウェア ・解析項目:開口分布、3Dファーフィールド、指向性利得
・表示形式:3D表示、XY表示、等高線分布
・使用PCスペック
 CPU:Pentium4 3.0GHz以上
 メモリ:512MB以上
 HDD:100MB以上(OS領域を除く)
 その他必要なもの:PC本体、ベクトルネットワークアナライザ