伝搬遅延方式 Cut Backタイプ
フリースペース法
比誘電率/誘電正接(εr/tanδ)測定装置・システム

Model No. DPS06

周波数が500MHzから40GHzにおいて、εrが概ね1.05から500の材料のεrおよびtanδを計測する測定装置・システムです。特に損失の大きい試料の計測に威力を発揮します。

伝送路を用いたCut Back法からなり、以下に示す特長があります。

なお、試料が充填された状態での特性インピーダンスが50Ωに近くなるよう回路設計します。

仕様

測定周波数	500MHz~40GHz
試料の特性	εr　:　1.05~500　精度±5% tanδ:　0.001~5

Cut Back用計測キット(1セット)	CBC-04
APC2.9(m)コネクタ付　40GHz用同軸ケーブル　3m (2本)	CM06D-APC2.9(m)APC2.9(m)-3000
Cut Back用プログラム(1セット)	DMP-14
ベクトルネットワークアナライザ	お持ちでない場合には手配いたします。ご希望の機種等ございましたら、お知らせください。
Windows PC プリンタ付	お持ちでない場合には手配いたします。
GPIBケーブル	GP-01