伝搬遅延方式　Cut Backタイプ
ストリップライン法
比誘電率・誘電正接(εr', tanδ)測定器・システム

周波数が500MHzから40GHzにおいて誘電体シートや粘土性のものなどのεrおよびtanδを計測する測定装置です。

粉体などを測定する場合、カサ比重と真比重から真の誘電率およびtanδを算出するソフトおよび温度測定装置および温度依存性計算ソフトをoptionで追加できます。
また、バイアスを印加することによりεrとtanδの電圧依存性も評価できます。

伝送路を用いたCut　Back　(カットバック)法から成り、以下に示します特長があります。

• 特性インピーダンスのミスマッチングによる反射ロスの補正をはかることによる精度の向上および測定の単純化
• 周波数連続可変(周波数スイープ)

なお、Cut　Back用計測キットは、試料を挟んだときに特性インピーダンスが概ね50Ωになるように回路設計し、製作いたします。