1. エンブレム、レドーム設計用 多層板透過減衰量 シミュレーションソフトウェア
| 1.1 エンブレム、レドーム設計用多層板透過減衰量シミュレーションソフトウェア [SFW05] | |||
webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/sfw/sfw05/page.html エンブレムなどの設計に最適な透過減衰量や反射減衰量のシミュレーションソフトウェアです。使用予定材料の誘電率や透磁率をマウスを用いて設定すると、試料厚さと透過減衰量及び反射減衰量の関係をリアルタイムでグラフ化します。 グラフは、横軸にエンブレムの厚さ、縦軸に減衰量を表示します。 |
2. 遠方界用透過減衰量測定装置（電波暗室不要）
| 2.1 ミリ波・マイクロ波透過減衰量測定システム (レーダ用レドーム、カバー測定等に最適） [RTS01] | 2.2 周波数変化法フリースペースタイプ 比誘電率, 誘電正接, 透過減衰量, 電波吸収率 ミリ波・マイクロ波 測定装置・システム ( εr', tanδ/Dk, Df) [DPS10] |
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webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/rts/rts01/page.html レーダー波がレドームやカバーを透過するときの周波数と透過減衰量の関係を簡単に測定できます。そのため、周波数を変化させることにより、目的の周波数におけるレドーム等の最適の厚さを容易に求めることができます。 なお、アンテナにレンズを取り付けていますのでコンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度が 得られます。 また、アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。 |
webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/dps/dps10/page.html 自由空間で測定可能な、電波暗室が不要な誘電率/誘電正接測定システムです。切断できない試料や厚い材料の測定に向いています。 従来からの一般的なフリースペース計算手法 Sパラメータ法[DPS24] では精度が出ないために新規開発した手法です。 Sパラメータ法と比較し、0校正し、測定するだけの簡単さ、PTFEでも測定できる正確さが特長です。 |
| 2.3 ミリ波用30mmΦ透過減衰量/反射減衰量測定システム (レーダ用レドーム、カバー測定等に最適） [RTS06] | |||
| webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/rts/rts01/page.html 小口径の測定ニーズにお応えした測定システムです。76.5GHzで30mmΦに99.99％照射しております。 |
3. レドーム、エンブレム、レーダーカバー評価 (透過減衰量およびチルト測定装置)（電波暗室不要）
| 3.1 レーダーアライメントシステム(RAS)SM5899 (レドーム/エンブレム測定システム)[RAT02] |
3. 2 自動車用エンブレム評価システム [EES12] | ||
webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/rat/rat02/page.html ①自動車バンパー付近のレーダーのアライメント調整②レーダカバーの特性試験(挿入損失とビームチルト) |
webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/ees12/page.html ミリ波レーダービームに対するエンブレムの影響（透過減衰量）を評価できます。
また、従来版と比べて、往復の透過減衰量が測定できます。 |
| 3.3 自動車用エンブレム透過歪み可視システム - EBEV-01[RCS10] | |||
webカタログ⇒ https://www.keycom.co.jp/jproducts/rcs/rcs10/page.html エンブレムの後ろに衝突防止レーダーを配置する場合、エンブレムの透過減衰量とチルト角度（曲がり角度）を小さくする必要があります。それをイメージングレーダーを用いて可視化するシステムです。 |